针高检测-检测方法
检测项目
几何尺寸检测:
- 引脚高度测量:[公差±0.01mm](参照ISO 1101)
- 引脚间距:[标准0.5mm±0.02mm](参照ISO 286-2)
- 引脚垂直度:[偏差≤0.5°]
- 表面粗糙度:[Ra≤0.8μm](参照ISO 4287)
- 氧化层厚度:[≤10nm](参照ISO 1463)
- 划痕检测:[无可见缺陷]
- 抗弯强度:[≥50MPa]
- 疲劳寿命:[≥10^6 cycles](参照ISO 12107)
- 金属纯度:[Cu含量≥99.9%]
- 合金元素:[Ni偏差±0.03wt%]
- 温度循环测试:[-40°C至+125°C,100 cycles](参照IEC 60068-2-14)
- 湿度测试:[95%RH,48h无腐蚀]
- 接触电阻:[≤10mΩ](参照IEC 60512)
- 绝缘电阻:[≥100MΩ]
- 引脚共面度:[≤0.05mm](参照JIS C 0010)
- 平面度偏差:[≤0.02mm]
- 插拔次数:[≥5000 cycles](参照MIL-STD-883)
- 磨损测试:[表面损失≤5μm]
- 涂层厚度:[镀金层≥0.5μm](参照ISO 2178)
- 附着力:[划格法5B级]
- 反光率:[≥80%]
- 透光性:[无雾度]
检测范围
1. 集成电路引脚: BGA、QFP等封装引脚,重点检测高度一致性和共面性
2. 连接器针脚: USB、HDMI接口针脚,侧重插拔耐久性和高度偏差
3. PCB组装引脚: 电路板焊接引脚,检测焊点高度和机械强度
4. 继电器触点: 开关元件触点,重点检测接触电阻和高度公差
5. 传感器探针: 温度/压力传感器探针,侧重尺寸精度和环境耐受性
6. 端子连接件: 电源端子引脚,检测表面粗糙度和抗腐蚀性
7. 射频接头引脚: 高频连接器,重点检测绝缘电阻和尺寸稳定性
8. 微型电机电刷: 电机组件电刷针,侧重磨损测试和高度一致性
9. LED支架引脚: 发光二极管支架,检测涂层厚度和电气性能
10. 电池端子: 锂离子电池连接端,重点检测耐久性和接触电阻
检测方法
国际标准:
- ISO 1101:2017 产品几何技术规范(GPS)
- ISO 4287:2020 表面粗糙度测量方法
- IEC 60512-1:2018 电子连接器测试方法
- MIL-STD-883K 微电子器件测试标准
- GB/T 16892-2017 电子元器件引脚尺寸测量方法
- GB/T 2423.22-2012 环境试验方法
- GB/T 1800.2-2020 产品几何技术规范
- GB/T 10125-2021 人造气氛腐蚀试验
检测设备
1. 激光测高仪: LJ-V7000系列(分辨率0.1μm,测量范围0-50mm)
2. 三维坐标测量机: CRYSTA-Apex S型(精度±1.5μm,行程500x700x500mm)
3. 光学显微镜: DSX1000系列(放大倍率1000X,数码成像)
4. 表面粗糙度仪: SJ-410型(测量范围Ra 0.01-40μm,触针半径2μm)
5. 万能材料试验机: AGX-V系列(载荷范围0.01-50kN,精度±0.5%)
6. 环境试验箱: TAS-150型(温度范围-70°C至+180°C,湿度10-98%RH)
7. 电阻测试仪: RM3545型(测量范围0.1mΩ-120MΩ,精度±0.1%)
8. 共面性检测仪: CP-2000型(检测精度±0.02mm,自动校准)
9. 磨损试验机: TRB型(载荷0.1-100N,频率1-50Hz)
10. 涂层测厚仪: TT260型(测量范围0-2000μm,误差±1%)
11. 光谱分析仪: QSN750-II型(检出限0.0001%,波长范围190-800nm)
12. 插拔寿命测试机: CT-4000型(速度10-100次/分,可编程循环)
13. 温度冲击试验箱: TST-100型(转换时间<10s,温度-65°C至+150°C)
14. 影像测量仪: IM-6000型(CCD分辨率5μm,软件分析)
15. 湿度腐蚀试验箱: HCT-200型(湿度控制95%RH,温度+40°C)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。