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文章概述：X 射线衍射法：通过测量晶体的衍射图谱来确定凸度比率。
扫描电子显微镜法：利用电子束扫描样品表面，观察其微观结构和凸度比率。
原子力显微镜法：通过测量探针与样品表面的相互作
X 射线衍射法：通过测量晶体的衍射图谱来确定凸度比率。
扫描电子显微镜法：利用电子束扫描样品表面，观察其微观结构和凸度比率。
原子力显微镜法：通过测量探针与样品表面的相互作用力来获取凸度比率信息。
光学显微镜法：直接观察样品的表面形态，估算凸度比率。
