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文章概述：1. 光学显微镜：用于观察枝晶的形态和结构。
2. 电子显微镜（SEM）：可用于高分辨率观察枝晶的三维形貌。
3. X射线衍射仪：用于分析枝晶的晶体结构和晶面取向。
4. 扫描电镜（SEM）：可用于
1. 光学显微镜：用于观察枝晶的形态和结构。
2. 电子显微镜（SEM）：可用于高分辨率观察枝晶的三维形貌。
3. X射线衍射仪：用于分析枝晶的晶体结构和晶面取向。
4. 扫描电镜（SEM）：可用于观察和分析枝晶的表面形貌和形成机制。
5. 热分析仪（如热重分析仪或差示扫描量热仪）：用于研究枝晶的熔化和热稳定性。
6. 压电力/位移测量仪：用于测量枝晶在外力作用下的力学性能。
7. 压缩试验机：用于测试枝晶的力学性能，如强度、塑性和断裂韧性等。
