检测项目
1.投影畸变率：全视场范围内几何畸变值≤0.15%，采用网格标定法测量2.光强均匀性：中心与边缘照度比≥95%，依据CIE198标准校准3.色差偏差：ΔE≤1.5（D65光源），基于CIELAB色彩空间分析4.MTF调制传递函数：空间频率50lp/mm时对比度≥0.65.透射波前误差：RMS值≤λ/10（λ=632.8nm）
检测范围
1.光学玻璃基板（折射率1.45-2.20）2.聚合物薄膜材料（厚度50-500μm）3.金属镀膜反射镜（Al/Ag镀层厚度50-200nm）4.半导体光刻掩模版（线宽精度5nm）5.LCD/OLED显示面板模组（分辨率4K-8K）
检测方法
1.ASTME3078-19《光学系统成像质量评价规程》2.ISO13696:2002《光学元件散射特性测定》3.GB/T26323-2010《光学薄膜光谱性能测试方法》4.ISO9039:2008《光学系统畸变测量程序》5.GB/T7922-2023《显示器件色度特性测量方法》
检测设备
1.ZYGOVerifireMST干涉仪：波长632.8nm，PV精度λ/1002.KonicaMinoltaCS-2000A分光辐射度计：视角85，精度0.3%3.OptikosCMT-1000调制传递函数仪：频率范围0-1000lp/mm4.BrukerContourGT-X3白光干涉仪：垂直分辨率0.1nm5.LabsphereLMS-760光谱反射系统：波长范围380-2500nm6.TriopticsImageMasterPro像质分析仪：支持ISO12233测试标板7.ShimadzuSPD-M30A分光光度计：波长精度0.1nm8.VisionResearchPhantomVEO710L高速摄像机：帧率680,000fps9.EdmundOpticsMTF对比度测试仪：符合ISO15529标准10.KeysightCary7000全能型分光测色系统：支持CIE15-110多角度测量
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
