检测项目
高分子材料电性能：
- 体积电阻率测试：常态值≥1×10^13Ω·cm（IEC60093）
- 表面电阻测试：25℃时≤1×10^8Ω（GB/T1410-2006）
- 介电强度：击穿电压≥30kV/2.5mm（ASTMD877）
- 介质损耗因数：50Hz时tanδ≤0.005（IEC60247）
- 高温电阻率：1000℃时ρv≥1×10^6Ω·cm（GB/T5594.3）
- 绝缘电阻：DC500V下≥5GΩ（JISC2141）
- 层间电阻率：正交方向偏差±15%（ASTMD4496）
- 湿热老化后变化率：ρv下降≤2个数量级（IEC60811-501）
- 体积电阻率：硫化胶≥1×10^12Ω·cm（ISO1853）
- 抗静电性能：表面电阻1×10^6~1×10^9Ω（EN16350）
- 膜厚均匀性：电阻值波动≤±10%（GB/T16906）
- 针孔检测：击穿点密度≤3个/m²（ASTMD1000）
- 体积电阻率：25℃时≥1×10^15Ω·cm（JEDECJESD22）
- 离子污染度：Na⁺含量≤0.1μg/cm²（IPCTM-650）
- 电导率突变点：填料含量18-22wt%（ISO80004）
- 隧穿电阻：间距1nm时R≥100MΩ（IEEE2861）
- 晶圆承载器电阻率：1×10^9~1×10^12Ω·cm（SEMIE129）
- 静电消散时间：＜0.5s（ANSI/ESDS20.20）
- 绝缘电阻常数：Ki≥3670MΩ·km（IEC60811-502）
- 浸水后变化率：Δρv≤±10%（GB/T5023.2）
检测范围
1.工程塑料：涵盖PC、PEEK、PTFE等，重点检测高温高湿环境下电阻稳定性
2.绝缘漆与树脂：环氧树脂/聚氨酯体系，检测固化后体积电阻率及耐电弧性
3.陶瓷基板：氧化铝/氮化铝基板，考核高温绝缘强度及热循环后性能衰减
4.硅橡胶制品：高压绝缘子/密封件，验证抗紫外线老化后电阻保持率
5.防静电材料：ESD地板/包装材料，测定表面电阻控制范围（10^6~10^9Ω）
6.纳米复合薄膜：石墨烯/聚合物薄膜，研究填料分散性对导电阈值影响
7.电力电容器介质：聚丙烯薄膜，检测金属化后自愈特性与绝缘电阻
8.电子陶瓷元件：压敏电阻基体，验证晶界势垒与漏电流关系
9.电缆附件：冷缩/热缩套管，考核长期浸水后体积电阻变化
10.半导体封装胶：环氧模塑料，检测离子杂质诱导电迁移失效
检测方法
国际标准：
- ASTMD257-14绝缘材料直流电阻测试
- IEC62631-3-1:2016固体绝缘材料体积电阻测定
- ISO3915:2022塑料导电性能测量
- GB/T1410-2006固体绝缘材料体积/表面电阻率试验
- GB/T10064-2006绝缘液体绝缘电阻测定
- GB/T5654-2007液体绝缘材料相对介电常数测试
方法差异说明：ASTMD257要求电极直径≥100mm，GB/T1410允许最小电极直径50mm；IEC62631规定测试电压优先选择100V/mm，而GB/T1410默认500V标准电压
检测设备
1.高阻计：KEITHLEY6517B型（测量范围10^4~10^17Ω，分辨率0.1fA）
2.三电极系统：环形电极装置（主电极直径50±0.1mm，间隙2±0.1mm）
3.恒温恒湿箱：ESPECPR-3KP（温控±0.5℃，湿度±2%RH）
4.介电击穿测试仪：HipotronicsDDX-10kV（升压速率500V/s，精度±1%）
5.静电衰减测试仪：DESCO19403（衰减时间范围0.01~99.99s）
6.高温电阻测试台：高温探头系统（最高1200℃，控温±1℃）
7.皮安表：KEITHLEY6430（电流分辨率0.4fA）
8.真空浸渍装置：真空度≤0.1Pa，浸渍压力0.5MPa
9.表面电阻测试仪：ACL-380（测量范围10^3~10^12Ω）
10.离子色谱仪：测量Cl⁻/Na⁺杂质（检测限≤0.1ppb）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
