检测项目
几何尺寸检测：
- 横向尺寸测量：平均长度（L50）、平均宽度（W50）（单位：nm，参照ISO/TS21356）
- 长宽比计算：比值范围（0.5-5.0）
- 纳米片厚度测量：平均厚度（Tavg≤1.2nm）厚度标准差（SD≤0.3nm）
- 层数判定：单层率（≥95%）
- 表面粗糙度：Ra值（≤0.5nm）
- 边缘完整性：缺陷密度（≤5个/μm²）
- 团聚指数：团聚系数（CI≤0.1）
- 分散均匀性：均匀度指数（UI≥0.8）
- 尺寸分布宽度：D10D90值（范围差≤50nm）
- 分布曲线拟合：拟合优度（R²≥0.98）
- 纳米片数量密度：颗粒/μm²（100-500）
- 形状因子：圆形度（≥0.7）
- 厚度变异系数：CV值（≤10%）
- 最大厚度偏差：偏差值（±0.5nm）
- 长宽比分布：均值（1.5-3.0）标准差（≤0.5）
- 各向异性指数：AI值（0.6-1.0）
- 浓度计算：颗粒/mL（106-109）
- 尺寸频率分布：直方图分析
- 孔洞检测：孔洞数量（≤3个/片）
- 褶皱评估：褶皱密度（≤2%）
检测范围
1.单层石墨烯纳米片：侧重厚度均一性和原子层完整性检测，确保D50值在50-200nm范围
2.多层石墨烯纳米片：关注层数和厚度分布对界面结合的影响，检测平均厚度1.2-5nm
3.氧化石墨烯纳米片：评估含氧基团对尺寸稳定性的作用，重点检测表面缺陷和分散性
4.功能化石墨烯复合材料：检测化学修饰导致的尺寸变化，侧重表面形态和团聚指数
5.石墨烯增强聚合物：分析纳米片分散对力学性能的贡献，测量颗粒浓度和均匀度
6.石墨烯电极材料：优化尺寸分布对电导率的影响，核心检测长宽比和厚度一致性
7.石墨烯量子点：量化小尺寸纳米片（<10nm）的分布宽度，侧重D10值和形状因子
8.石墨烯纳米带：检测长宽比和边缘缺陷，确保分布曲线符合应用要求
9.石墨烯气凝胶：评估三维结构中的尺寸分散性，重点测团聚系数和孔隙率
10.石墨烯纳米墨水：分析喷墨打印适用性，检测浓度均匀度和表面粗糙度
检测方法
国际标准：
- ISO/TS21356:2021纳米材料尺寸分布测量指南
- ASTME2865-22石墨烯纳米片表征标准方法
- ISO13322:2021颗粒尺寸分析图像分析方法
- GB/T30544.1-2014纳米技术纳米颗粒尺寸分布测量透射电子显微镜法
- GB/T35509-2017纳米材料扫描电子显微镜测试方法
- GB/T40367-2021纳米材料激光衍射法粒度分析
检测设备
1.扫描电子显微镜：HitachiSU8200型（分辨率0.4nm）
2.透射电子显微镜：JEOLJEM-2100F型（加速电压200kV）
3.原子力显微镜：BrukerDimensionIcon型（XYZ分辨率0.1nm）
4.激光粒度分析仪：MalvernMastersizer3000型（测量范围0.01-3500μm）
5.动态光散射仪：WyattDynaProNanoStar型（粒径范围0.5-1000nm）
6.图像分析系统：OlympusStreamBasic型（处理速度100图像/分钟）
7.超声波分散仪：HielscherUP200St型（功率200W）
8.拉曼光谱仪：RenishawinVia型（分辨率1cm⁻¹）
9.X射线衍射仪：ShimadzuXRD-7000型（精度0.001°）
10.纳米颗粒计数器：ParticleSizingSystemsAccuSizer型（计数范围0.5-400μm）
11.表面轮廓仪：ZygoNexview型（垂直分辨率0.1nm）
12.离心粒度仪：BeckmanCoulterLS13320型（转速范围100-20000rpm）
13.光学显微镜：LeicaDM6000型（放大倍数1000x）
14.红外光谱仪：ThermoNicoletiS50型（波长范围4000-400cm⁻¹）
15.超声探针系统：SonicsVibra-Cell型（频率20kHz）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
