磁砖耐低温试验
检测项目
热学性能检测:
- 抗冻性试验:质量损失率≤0.5%(ISO 10545-12),残余强度损失率≤25%(GB/T 3810.12)
- 线性热膨胀系数:(6.0~7.5)×10⁻⁶/℃(ASTM C372)
- 温度循环稳定性:30次循环(-30℃至+20℃)无裂纹(EN ISO 10545-9)
- 残余断裂模量:≥35MPa(冻融后,GB/T 3810.4)
- 弹性模量:≥45GPa(三点弯曲法,ASTM C674)
- 抗冲击性:落球高度≥1.0m(EN 14158)
- 孔隙率检测:≤0.5vol%(水银压入法,ISO 15901-1)
- 显微裂纹评级:≤Class 2(SEM 1000×,ASTM CJianCe5)
- 晶相转变分析:石英含量变化≤3wt%(XRD Rietveld法)
- 吸水率测定:0.5%~10.0%(沸煮法,ISO 10545-3)
- 饱和系数:≤0.78(GB/T 4100)
- 湿膨胀率:≤0.6mm/m(EN ISO 10545-10)
- 釉面开裂指数:≤1级(50×放大检验,GB/T 3810.11)
- 边缘剥落面积:≤5mm²/件(卡尺测量)
- 表面缺陷密度:≤3处/100cm²(目视检查)
- 线性收缩率:±0.3%(冻融前后,EN ISO 10545-2)
- 平面弯曲度:≤0.5%(直尺塞尺法)
- 对角线偏差:±0.6%(激光扫描)
- 冻融后拉伸粘结强度:≥0.5MPa(水泥基粘接,EN 12004)
- 剪切强度衰减率:≤30%(ISO 13007-2)
- 除冰盐侵蚀质量损失:≤0.1g/cm²(NaCl溶液浸泡)
- 耐化学腐蚀等级:≥UB级(ISO 10545-13)
- 冻融后固有频率偏移:≤5%(共振法,ASTM C215)
- 加速老化试验:100次循环等效20年(ASTM E2965)
- 残余寿命预测:威布尔分布分析(形状参数m≥8)
检测范围
1. 釉面内墙砖:重点检测釉面与坯体热膨胀匹配性及釉面开裂风险
2. 瓷质抛光砖:侧重闭口气孔率(≤0.5%)与微裂纹扩展抑制能力
3. 炻质外墙砖:关注冻融循环50次后的抗弯强度衰减(≤15%)
4. 陶质劈离砖:检测吸水率(6%-10%)与饱和系数(≥0.77)的临界控制
5. 玻化马赛克:单颗粒抗冻性及网格粘接体系完整性验证
6. 防滑地砖:表面纹理结构对冰晶应力的分散能力评估
7. 薄板陶瓷(≤5.5mm):平面度变形量(≤0.3mm/m)与残余振动模态分析
8. 通体质感砖:截面孔隙分布均匀性(CT扫描法)
9. 干挂幕墙板:背栓连接区域应力集中系数(FEA验证)
10. 烧结透水砖:贯通孔隙率(15%-25%)与冰胀应力缓解效率
检测方法
国际标准:
- ISO 10545-12:2017 陶瓷砖抗冻性测定方法(-5℃水饱和,-15℃冷冻)
- ASTM C1026 低温环境瓷砖线性变化测试(-20℃恒温24h)
- EN ISO 10545-9 温度循环试验(-30℃/+20℃各30min)
- ISO 13007-2 瓷砖胶粘剂冻融剪切强度试验
- GB/T 3810.12-2016 陶瓷砖试验方法-抗冻性(-15±2℃冷冻,+20±5℃融化)
- GB/T 4100-2015 附录G 瓷质砖残余强度试验(三点弯曲法)
- JC/T 995-2006 玻化砖热稳定性试验(140℃至19℃急冷)
- GB/T 30100 建筑幕墙用瓷板(冻融50次质量损失≤0.5%)
检测设备
1. 程序控制低温试验箱:ESPEC PCT-40(温区-40℃~+150℃,降温速率≥3℃/min)
2. 微机控制电子万能试验机:INSTRON 5967(载荷50kN,精度0.5级)
3. 激光热膨胀仪:LINSEIS DIL L76(温度范围-180~600℃,分辨率0.05μm)
4. 扫描电子显微镜:ZEISS EVO 18(分辨率3nm,冷冻传输系统)
5. X射线衍射仪:Rigaku SmartLab(Cu-Kα辐射,步进0.01°)
6. 全自动吸水率测定仪:Kerotec Hydro(真空度≤5kPa,称量精度0.001g)
7. 共振频率分析仪:GrindoSonic MK7(频率范围100Hz-50kHz)
8. 红外热像仪:FLIR T1020(热灵敏度≤0.03℃,空间分辨率1024×768)
9. 微焦点工业CT:YXLON FF35(分辨率≤1μm,电压160kV)
10. 落球冲击试验机:DWT-5(钢球质量1000g,高度0-2m可调)
11. 粘结强度夹具:
12. 恒温水浴槽:Julabo F32(控温精度±0.1℃,容量30L)
13. 三点弯曲夹具:跨距100mm,辊轴半径5mm(GB/T 3810.4)
14. 数字式应变仪:KYOWA KFGS-120(应变片阻值120Ω,精度±0.1%)
15. 低温露点测试舱:Angelantoni F4(-70℃~+180℃,湿度10-98%RH)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。