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半导体晶圆清洗液颗粒检测

检测项目

颗粒尺寸分析:

  • 粒径分布:0.1μm、0.3μm、0.5μm、1.0μm、5.0μm、10.0μm分级统计(参照SEMI C35)
  • 中值粒径(D50):0.5-5.0μm范围偏差±10%
颗粒浓度检测:
  • 颗粒数密度:≥0.1μm颗粒≤100个/mL
  • 体积浓度:≤0.01% v/v
颗粒形貌观察:
  • 形态特征:球形度≥0.9(SEM/TEM观测)
  • 表面粗糙度:Ra≤0.1μm
化学成分分析:
  • 元素组成:硅、氧、碳含量检测(EDS法,检出限0.1wt%)
  • 有机物残留:TOC≤10ppb
液体物理参数:
  • 电导率:0.055μS/cm(25°C)
  • pH值:6.0-8.0范围
微生物污染检测:
  • 细菌总数:≤1CFU/mL
  • 真菌检测:阴性(参照ISO 16232)
溶解氧含量:
  • 溶解氧浓度:≤5ppb
  • 氧化还原电位:+200mV至+400mV
表面张力测量:
  • 表面张力值:72±1mN/m
  • 接触角:≤10°
杂质离子检测:
  • 钠离子:≤0.1ppb
  • 氯离子:≤0.05ppb
颗粒沉降特性:
  • 沉降速率:≤0.01mm/s
  • 悬浮稳定性:≥24小时无沉降

检测范围

1. 酸性清洗液(如SC1): 重点检测氢氟酸基溶液中颗粒尺寸分布及金属离子残留

2. 碱性清洗液(如SC2): 侧重氨水基溶液中颗粒浓度及有机物污染

3. 去离子水: 纯水系统中超纯水颗粒数密度及电导率控制

4. 有机溶剂清洗液: 异丙醇等溶剂中颗粒形态及TOC含量

5. 光刻胶去除液: 剥离剂溶液中颗粒尺寸及表面张力稳定性

6. 蚀刻后清洗液: 蚀刻残留液中颗粒化学成分及pH值

7. CMP后清洗液: 抛光浆料清洗液中颗粒浓度及沉降特性

8. 超纯水: 高纯度水系统中微生物污染及离子杂质

9. 混合清洗液: 复合配方中颗粒分布及溶解氧含量

10. 回收清洗液: 再生处理液中颗粒稳定性及污染物累积

检测方法

国际标准:

  • SEMI C35-0709 液体颗粒计数方法
  • ISO 16232-10 道路车辆-流体清洁度
  • ASTM D5127-13 水中阴离子测定
国家标准:
  • GB/T 5750.7-2006 生活饮用水标准检验方法
  • GB/T 6682-2008 分析实验室用水规格
  • GB/T 15432-2009 大气降水中阴离子测定
方法差异说明:SEMI标准侧重半导体清洗液亚微米颗粒检测,ISO标准涵盖更广粒径范围;GB标准电导率检测限较高(0.1μS/cm),ASTM标准采用离子色谱法精度±5%

检测设备

1. 激光颗粒计数器: ParticleCounter 3000(检测范围0.1-100μm,精度±0.5%)

2. 扫描电子显微镜: SEMPro XT(分辨率0.1nm,放大倍数10-100000x)

3. 透射电子显微镜: TEMUltra HD(点分辨率0.05nm,加速电压300kV)

4. 能谱分析仪: EDSAnalyzer Pro(元素检出限0.01wt%,能量分辨率130eV)

5. 电导率仪: ConductoCheck 500(量程0.01-1000μS/cm,精度±0.1%)

6. pH计: pHMaster 200(范围0-14,精度±0.01)

7. 总有机碳分析仪: TOCSensor Ultra(检出限0.1ppb,温度控制25±0.5°C)

8. 微生物检测系统: MicroBioScan(培养时间24h,检出限1CFU/mL)

9. 表面张力仪: Tensiometer Pro(量程0-100mN/m,精度±0.1mN/m)

10. 离子色谱仪: IonChrom 600(分离时间<10min,检出限0.01ppb)

11. 沉降特性分析仪: SettleRate 400(沉降速率范围0.001-10mm/s)

12. 接触角测量仪: AngleMeasure Pro(角度范围0-180°,精度±0.1°)

13. 氧化还原电位计: RedoxTester 150(范围-1000至+1000mV,精度±1mV)

14. 激光散射粒度仪: SizeMaster 250(粒径分布分析,重复性±1%)

15. 超纯水系统监测器: PureWater Monitor(实时电导率跟踪,警报阈值0.055μS/cm)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

半导体晶圆清洗液颗粒检测
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。