检测项目

几何精度检测：

• 尺寸公差：位置误差≤0.05mm（参照ISO 1101）、平行度偏差≤0.02mm
• 形状误差：圆度公差±0.01mm、圆柱度误差≤0.03mm

• 粗糙度参数：Ra值≤0.8μm、Rz值最大值10μm（ISO 4287）
• 表面缺陷：划痕深度≤0.005mm、裂纹长度检测阈值0.1mm

• 拉伸试验：屈服强度≥355MPa、断后伸长率≥20%（GB/T 228.1）
• 硬度检测：维氏硬度HV10波动±5%、洛氏硬度HRC偏差≤2点

• 元素含量：碳当量CEV计算±0.03wt%、合金元素Si±0.05wt%（ISO 15350）
• 杂质检测：硫含量≤0.015%、磷含量≤0.025%

• 热膨胀系数：α值±1×10⁻⁶/K（参照ASTM E831）
• 蠕变变形：1000小时变形量≤0.1%

• 电阻率：铜材料偏差±0.5μΩ·cm
• 绝缘强度：击穿电压≥10kV/mm

• 导热系数：波动范围±0.5W/m·K
• 比热容偏差：±2%

• S-N曲线测试：循环次数≥10⁶次（ISO 12107）
• 裂纹扩展速率：da/dN≤10⁻⁸m/cycle

• 透光率：偏差±1%
• 折射率：n值波动±0.001

• 盐雾试验：腐蚀速率≤0.1mm/年（GB/T 10125）
• 应力腐蚀开裂：临界应力强度因子KISCC测试

检测范围

1. 金属合金材料： 涵盖铝合金至钛合金系列，重点检测铸造缩孔、热处理变形及晶界偏析误差

2. 聚合物基复合材料： 包括碳纤维增强塑料，侧重界面结合强度、纤维取向偏差及热膨胀不一致性

3. 精密机械零件： 如轴承套圈或齿轮，聚焦尺寸超差、圆度波动及装配间隙误差

4. 电子元器件： 半导体芯片至连接器，强调引脚共面度、焊点空洞及热应力引起的变形

5. 铸造工件： 灰铸铁至球墨铸铁件，检测缩松缺陷、表面冷隔及化学成分不均匀性

6. 锻造部件： 如轴类锻件，重点分析流线缺陷、残余应力分布及硬度梯度

7. 焊接接头： 钢材至有色金属焊缝，检测热影响区裂纹、熔深偏差及气孔密度

8. 陶瓷材料制品： 氧化铝至碳化硅陶瓷，侧重烧结收缩不均、表面微裂纹及热震性能波动

9. 光学透镜组件： 玻璃或塑料透镜，检测曲率半径误差、面形偏差及透射均匀性

10. 功能性涂层材料： 如PVD涂层，重点分析厚度一致性、结合强度及耐磨性偏差

检测方法

国际标准：

• ISO 1101:2017 几何公差规范（尺寸误差测量方法）
• ASTM E8/E8M-22 金属拉伸试验（应变速率控制为0.00025s⁻¹）
• ISO 4287:1997 表面粗糙度参数定义（采用触针式轮廓法）
• ASTM E384-22 显微硬度测试（载荷范围10gf-1000gf）

• GB/T 1800.1-2020 尺寸公差标准（位置误差测量采用坐标法）
• GB/T 228.1-2021 金属材料拉伸试验（应变速率要求0.0005s⁻¹，与国际标准差异）
• GB/T 4340.1-2009 维氏硬度试验（压头加载时间30秒）
• GB/T 10125-2021 盐雾腐蚀试验（喷雾周期24小时循环）

检测设备

1. 三坐标测量仪： ACCURA II型（测量精度±0.001mm，重复精度0.5μm）

2. 轮廓粗糙度仪： SURFCOM FLEX-A型（分辨率0.01μm，测量长度100mm）

3. 电子万能试验机： MODEL 5967型（载荷范围0.01kN-1000kN，精度±0.2%）

4. 直读光谱仪： SPJianCeRO MAXx型（检测限0.0001%，波长范围160-800nm）

5. 维氏硬度计： HV-50型（载荷范围10gf-50kgf，压痕测量误差±1%）

6. 激光扫描显微镜： VK-X3000型（放大倍率50x-5000x，Z轴分辨率0.01μm）

7. 热膨胀系数仪： DIL 806型（温度范围-150°C至1600°C，精度±0.1μm/m·K）

8. 盐雾试验箱： CCT-600型（温度控制±1°C，喷雾量0.8ml/80cm²·h）

9. 疲劳试验系统： SERVO PLUS型（频率范围0.1-100Hz，载荷精度±0.5%）

10. 光学干涉仪： ZYGO GPI-XP型（波前精度λ/20，测量范围100mm直径）

11. 金相显微镜： AXIO OBSERVER型（放大倍率50x-1000x，分辨率0.2μm）

12. 超声波探伤仪： EPOCH 650型（频率范围0.5-15MHz，缺陷检出率≥99%）

13. 热导率测试仪： LFA 467型（测量范围0.1-2000W/m·K，精度±3%）

14. 电阻率测量系统： KEITHLEY 2450型（电流范围1pA-1A，精度±0.05%）

15. 涂层测厚仪： CM-8820型（测量范围0-2000μm，误差±1%）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。