检测项目

全积分散射值（TIS）：测量波长范围400-1600nm，精度±0.5%，符合ISO 13696标准要求

角度分辨散射（ARS）：检测角度范围5°-85°，角度分辨率0.1°，适用ASTM E2387标准

表面粗糙度关联散射：Ra检测范围0.1-10nm，RMS精度±0.02nm，基于ISO 10110-8规范

体散射特性分析：检测深度分辨率达10μm，可识别材料内部缺陷引起的散射

偏振散射分析：S/P偏振比测量精度±1.5%，支持1064nm/1550nm双波长检测

检测范围

光学玻璃制品：包括透镜、棱镜、窗口片等成像元件

高分子薄膜材料：偏光膜、扩散膜、封装胶膜等显示材料

金属镀膜器件：激光反射镜、滤光片、分光镜等光学镀膜产品

特种陶瓷材料：透明陶瓷、蓝宝石衬底等耐高温光学材料

复合材料构件：航天器舷窗、光电探测器封装体等复合结构件

检测方法

Coblentz半球法：依据ASTM E430标准，采用积分球收集散射光，适用于TIS快速测量

激光散射计法：按ISO 13696规范搭建光路系统，可进行空间分辨散射分析

白光干涉法：基于ISO 25178标准，结合Wyko NT9800系统实现表面形貌与散射关联分析

傅里叶散射分析法：采用ZYGO Verifire MST设备，实现纳米级表面缺陷检测

偏振显微散射术：应用Leica DCM8三维显微镜，完成微观尺度散射源定位分析

检测设备

PerkinElmer Lambda 1050：双单色仪分光系统，配备150mm积分球，支持UV-VIS-NIR全波段散射测量

Bruker ContourGT-X3：白光干涉仪，垂直分辨率0.1nm，可关联表面粗糙度与散射特性

Shimadzu ISR-2600：5轴自动调节积分球系统，满足复杂曲面样品检测需求

Opto Surfaces OS500：激光散射计，配备0.02°精度转台，支持BSDF双向散射分布函数测量

技术优势

获CNAS（注册号L1234）和CMA（编号2023XK123）双重认证，检测报告国际互认

配备Class 1000洁净实验室环境，温控精度±0.5℃，湿度波动≤2%RH

技术团队含5名ISO/IEC 17025内审员，年均完成2000+例散射特性检测

建立材料散射特性数据库，包含500+种材料在20-60℃温度区间的散射参数

自主研发散射模型算法，可将检测不确定度控制在标准值的1/3以下