检测项目

插入损耗：范围0.1-3.0 dB，分辨率≤0.01 dB

波长依赖性：测试范围1525-1625 nm，偏差≤±0.2 nm

偏振相关损耗（PDL）：测量范围0.05-1.0 dB，精度±0.02 dB

通道间串扰：阈值≤-40 dB，动态范围≥60 dB

温度稳定性：-40°C至+85°C循环测试，损耗波动≤0.5 dB

检测范围

硅基光波导芯片（SOI基板）

聚合物光波导器件（PMMA/SU-8材料）

光纤阵列耦合组件（单模/保偏光纤）

二氧化硅平面光波回路（PLC Splitter）

金属化封装结构（Au/Sn焊料界面）

检测方法

插入损耗测试：IEC 61755-3-2:2018（单模光纤连接器标准）

波长扫描分析：ISO/IEC 14763-3:2021（光分布系统验收标准）

偏振特性测量：ASTM F2213-21（光纤器件偏振特性标准）

串扰测试：GB/T 9771.3-2020（通信用单模光纤系统规范）

环境可靠性试验：GB/T 2423.22-2012（温度循环试验导则）

检测设备

Anritsu MS9740A光谱分析仪：波长精度±0.02 nm，动态范围70 dB

Keysight N7788B偏振分析仪：PDL测量精度±0.01 dB，扫描速率100 nm/s

EXFO IQS-5240插损测试系统：支持C+L波段，重复性±0.002 dB

Thermotron SM-32环境试验箱：温度控制精度±0.5°C，循环次数≥1000次

Viavi OLTS-95光时域反射仪：空间分辨率10 cm，事件盲区0.8 m

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。