检测项目
波长校准精度：±0.02 nm（400-700 nm波段）
谱线强度测量：相对误差≤2%（Hα/Hβ比值法）
半峰宽测定：分辨率≤0.05 nm（656.28 nm处）
背景噪声控制：信噪比≥100:1（积分时间1s）
同位素位移分析：δλ≤0.001 nm（氘/氢比测定）
检测范围
金属合金：铝合金中氢脆效应评估
半导体材料：硅晶圆表面氢钝化层厚度测定
环境样品：大气中游离态氢浓度监测
生物样本：细胞代谢产物的氢同位素标记分析
光学材料：氟化钙晶体氢杂质含量测试
检测方法
ASTM E1252-17：发射光谱法测定金属中氢含量
ISO 13947:2019：半导体材料氢浓度测试规范
GB/T 223.5-2021：钢铁材料氢脆敏感性试验方法
GB/T 39144-2020：纳米材料表面吸附氢测定通则
ISO 21258:2010：高纯气体中微量氢的定量分析
检测设备
Ocean Optics HR4000高分辨率光谱仪：波长范围200-1100nm，光学分辨率0.035nm
Thermo Scientific iCAP 7400 ICP-OES：氢元素检出限0.01ppm
Horiba LabRAM HR Evolution显微拉曼系统：空间分辨率达0.5μm
Agilent 8900三重四极杆ICP-MS/MS：同位素比值精度±0.05%
Bruker VERTEX 80v真空型傅里叶红外光谱仪：波数精度0.01cm⁻¹
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
