晶粒细化检测
检测项目
平均晶粒尺寸测定(测量范围:0.5-500μm)
晶粒度分布均匀性分析(偏差系数≤15%)
晶界清晰度评级(依据ASTM E112标准图谱)
异常晶粒比例统计(阈值设定:≥3倍平均尺寸)
孪晶与亚结构识别(分辨率≤0.1μm)
检测范围
金属合金:铝合金铸件、钛合金锻件、高温合金叶片
钢铁材料:轴承钢轧材、不锈钢焊件、工具钢淬火件
陶瓷材料:氧化锆结构陶瓷、氮化硅功能陶瓷
粉末冶金制品:硬质合金刀具、金属注射成型部件
增材制造产品:选区激光熔化钛合金件、电子束熔覆涂层
检测方法
ASTM E112-13:标准晶粒度测定与评级方法
ISO 643:2019:钢的奥氏体晶粒度显微测定法
GB/T 6394-2017:金属平均晶粒度测定方法
GB/T 13298-2015:金属显微组织检验方法
ISO 4499-2:2020:硬质合金微观结构的金相测定
检测设备
Olympus GX53金相显微镜(配备DP27数码相机,支持5000×光学放大)
Clemex Vision PE图像分析系统(具备自动晶界识别与统计模块)
TESCAN MIRA4场发射扫描电镜(配备EBSD电子背散射衍射系统)
Struers LaboPol-5自动磨抛机(压力控制精度±1N)
Leica EM TXP精密离子研磨仪(用于脆性材料无损伤制样)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。