检测项目
波长范围测定：780nm-1mm波段精度±2nm
辐射强度校准：0.1-1000W/m²量程误差≤±3%
发射率测量：0.01-1.00分辨率0.001
热响应时间测试：10μs-10s时间常数分析
光谱分布分析：2.5-25μm波段分辨率4cm⁻¹
检测范围
半导体材料：硅片/锗晶体/砷化镓基板
光学镀膜：增透膜/反射膜/滤光片
医疗设备：红外理疗仪/热成像诊断系统
建筑材料：Low-E玻璃/隔热涂料/保温板材
安防监控：红外摄像头/夜视仪/探测器
检测方法
ASTM E275-08(2022) 红外光谱仪校准规范
ISO 20387:2018 生物样本红外光谱分析方法
GB/T 26183-2022 红外热像仪性能测试方法
ISO 18554:2016 表面发射率测量标准流程
GB/T 40270-2021 红外辐射加热器能效测试规程
检测设备
Thermo Scientific Nicolet iS50 FT-IR光谱仪：波长覆盖0.78-25μm
FLIR T860红外热像仪：温度灵敏度0.03℃@30℃
SIGRAY X射线光电子能谱联用系统：表面成分分析精度±0.1at%
Agilent Cary 670傅里叶变换光谱仪：分辨率可达0.09cm⁻¹
Bruker VERTEX 80v真空型红外光谱仪：波数精度±0.005cm⁻¹
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
