检测项目
铍（Be）含量测定：采用ICP-OES法，检测范围15.5%-16.5%（w/w）
钾（K）含量测定：火焰原子吸收光谱法（FAAS），精度±0.3%（w/w）
硫酸根（SO₄²⁻）浓度分析：离子色谱法（IC），检出限0.05mg/L
重金属杂质总量：铅（Pb）、镉（Cd）、汞（Hg）总和≤10ppm
水分含量测定：卡尔费休库仑法，控制标准≤0.5%（w/w）
晶体结构表征：X射线衍射（XRD）分析晶型纯度≥98%
粒度分布测试：激光衍射法D50值10-50μm
检测范围
电子陶瓷基板用高纯硫酸铍钾原料
有机合成催化剂前驱体材料
核工业用特种化学试剂
高温合金表面处理剂
实验室基准物质标定样品
光电子器件镀膜材料
检测方法
ASTM E1479-16《电感耦合等离子体原子发射光谱法测定金属元素》
ISO 9280:2021《水质-硫酸盐的测定-离子色谱法》
GB/T 223.5-2008《钢铁及合金化学分析方法 还原型硅钼酸盐光度法测定酸溶硅含量》
GB/T 6283-2008《化工产品中水分含量的测定 卡尔·费休法》
ISO 13320:2020《粒度分析-激光衍射法》
GB/T 23942-2009《化学试剂 电感耦合等离子体原子发射光谱法通则》
检测设备
PerkinElmer Optima 8300电感耦合等离子体发射光谱仪：多元素同步定量分析
Thermo Scientific Dionex ICS-6000离子色谱系统：阴离子分离与定量
METTLER TOLEDO C30S卡尔费休水分仪：微量水分精确测定
Malvern Mastersizer 3000激光粒度分析仪：纳米至毫米级颗粒表征
Rigaku SmartLab X射线衍射仪：晶体结构分析与物相鉴定
Agilent 240Z石墨炉原子吸收光谱仪：痕量重金属元素检测
Sartorius CPA225D电子分析天平：万分之一精度称量系统
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
