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低电子速度摄像管检测

检测项目

1. 暗电流特性:测量无光照条件下电流值(0.1-10 nA),精度±0.05 nA

2. 动态响应范围:评估光强0.1-1000 lx下的输出线性度(误差≤±2%)

3. 空间分辨率:采用1951 USAF分辨率靶标测试(≥80 lp/mm)

4. 信噪比(SNR):在标准光源下测定(≥60 dB@300 lx)

5. 温度稳定性:-20℃至+60℃环境下的参数漂移(Δ值≤3%)

检测范围

1. 医用X射线影像增强器摄像管

2. 高速粒子轨迹记录用微通道板摄像管

3. 真空紫外光谱分析专用摄像管

4. 工业无损检测用低照度摄像管

5. 天文观测用高灵敏度电子倍增摄像管

检测方法

ISO 9345:2018《光电成像系统分辨率测试规范》

ASTM E2599-22《电子成像器件动态范围测量标准》

GB/T 13962-2021《光电成像器件通用技术条件》

IEC 62220-1:2020《医疗数字成像设备特性评价》

GB/T 18910.61-2021《液晶显示器件第6-1部分:环境试验方法》

检测设备

1. KEITHLEY 6487皮安表:暗电流及微弱信号测量(10 fA分辨率)

2. OL770-LED多光谱光源系统:可调波长(200-1100 nm)及光强控制

3. PHOTONIS XX1334微焦点测试平台:空间分辨率定量分析系统

4. THERMO TAS64环境试验箱:温控范围-70℃~+150℃(波动度±0.5℃)

5. HAMAMATSU C12132光电参数综合测试仪:集成SNR/动态响应测试模块

6. AGILENT DSOX92504A示波器:12 GHz带宽信号采集系统

7. LABSPHERE LMS-7600积分球:均匀光源校准装置(直径760 mm)

8. BRUKER VECTOR 33傅里叶红外光谱仪:光谱响应特性分析(400-5000 cm⁻¹)

9. ZYGO NewView 9000白光干涉仪:光电阴极表面形貌测量(0.1 nm纵向分辨率)

10. SCHOTT KL1500 LCD冷光源:标准D65光源模拟系统(色温6500K±50K)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

低电子速度摄像管检测
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。