检测项目
1. 元素浓度范围：0.1 ppm - 99.99% (检出限≤0.01 ppm)
2. 谱线分辨率：≤0.02 nm (200-900 nm波段)
3. 基体干扰系数：≤±3% (通过标准加入法验证)
4. 多元素同步检测：≥30种元素/次
5. 波长重复性误差：±0.005 nm (连续三次测量)
检测范围
1. 金属合金材料：铝合金（EN AW-6061）、钛合金（Ti-6Al-4V）等
2. 半导体材料：硅晶圆（掺杂浓度1e15-1e20 atoms/cm³）、GaN外延片
3. 环境样本：土壤重金属（Cd/Pb/As/Hg）、水质痕量元素
4. 医药原料：注射剂金属杂质（USP<232>标准）、辅料微量元素
5. 地质矿物：稀土元素配分测定（La-Lu）、贵金属矿脉分析
检测方法
1. 电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）：ASTM E1621-21/GB/T 20127-2006
2. X射线荧光光谱法（XRF）：ISO 3497:2020/GB/T 16597-2019
3. 原子吸收光谱法（AAS）：ISO 15586:2003/GB/T 15337-2008
4. 激光诱导击穿光谱法（LIBS）：ASTM E2926-17/GB/T 38257-2019
5. 辉光放电质谱法（GD-MS）：ISO 22036:2008/GB/T 28020-2011
检测设备
1. Thermo Fisher iCAP 7400 ICP-OES：轴向观测系统，CID86检测器覆盖167-852nm
2. Shimadzu EDX-7000 XRF光谱仪：Rh靶X光管（50kV/1mA），硅漂移探测器
3. PerkinElmer PinAAcle 900T AAS：石墨炉温度可达3000℃，塞曼背景校正
4. Bruker Tracer 5g handheld LIBS：1064nm Nd:YAG激光器（5mJ/pulse）
5. Agilent 8900 ICP-MS/MS：串联四极杆设计，MS/MS模式消除多原子干扰
6. Horiba Jobin Yvon Ultima 2 ICP-OES：中阶梯光栅分光系统（分辨率0.003nm）
7. Olympus Vanta M系列XRF：40kV/100μA钨靶管，适用于现场快速筛查
8. Analytik Jena contrAA 800高分辨AAS：连续光源技术覆盖185-900nm全波段
9. Teledyne Leeman Labs Prodigy7 ICP-OES：CID阵列检测器同步采集全谱数据
10. Hitachi EA1400 XRF镀层测厚仪：多层膜分析能力（Cu/Ni/Cr≤50μm）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
