检测项目
全息术检测技术主要应用于以下核心项目：
材料内部缺陷检测：通过干涉条纹分析材料内部的裂纹、气泡等缺陷。
表面形变测量：记录物体在受力或温度变化下的微小形变。
振动模式分析：捕捉高频振动下的动态全息图像。
三维形貌重建：基于相位信息构建高精度三维模型。
涂层厚度验证：通过光程差测量纳米级涂层均匀性。
检测范围
全息术检测覆盖多个工业与科研领域：
航空航天：涡轮叶片热形变监测（精度达0.1μm）
微电子制造：芯片封装应力分布检测
生物医学：细胞膜弹性模量测量
文物保护：古画颜料层老化过程追踪
汽车工业：发动机部件疲劳测试（频率范围0-50kHz）
检测方法
数字全息术（DH）
采用CCD/CMOS传感器直接记录干涉图，通过数值重建算法（如角谱法）实现相位解析，适用于实时动态检测。
电子散斑干涉术（ESPI）
通过对比变形前后的散斑图相位差，检测位移灵敏度可达λ/100（约5nm）。
脉冲激光全息术
使用脉宽10-30ns的激光光源，可冻结高速运动物体的瞬态状态。
白光垂直扫描干涉术
通过频域分析实现亚纳米级表面粗糙度测量，垂直分辨率达0.1nm。
检测仪器
| 设备名称 | 关键参数 | 应用场景 |
|---|---|---|
| 数字全息显微镜 | 532nm激光光源 2048×2048像素传感器 100μm×100μm视场 | 微结构三维形貌测量 |
| 动态散斑干涉仪 | 2000fps高速摄像 635nm激光波长 ±5mm位移量程 | 振动模态分析 |
| 多波长全息系统 | 三波长合成（457nm/532nm/633nm） 相位精度λ/200 | 大梯度形变测量 |
| 红外全息检测装置 | 1550nm激光光源 InGaAs探测器阵列 工作距离0.5-5m | 复合材料内部缺陷检测 |
辅助设备
防震光学平台（固有频率≤2Hz）
压电陶瓷相位调制器（位移重复性±0.5nm）
温控环境舱（波动±0.1℃）
