在炭材料xrd中为什么要加入高纯硅粉进行内标检测
检测项目
晶面间距(d002)测定:扫描范围10°-80°,步长0.02°,计数时间1s/step
石墨化度计算:基于(002)峰位半高宽(FWHM)及Bragg方程推导
晶体尺寸(Lc)分析:采用Scherrer公式计算层片堆积厚度
晶格畸变率测量:通过(004)峰形拟合获取微应变参数
硅内标峰校准:2θ=28.44°(Si(111))偏差控制≤±0.01°
检测范围
石墨类材料:天然石墨、人造石墨、膨胀石墨
碳基复合材料:C/C复合材料、石墨烯增强体
多孔炭材料:活性炭、碳分子筛、碳气凝胶
碳纤维制品:PAN基碳纤维、沥青基碳纤维
功能化炭材:插层化合物、表面改性炭黑
检测方法
ASTM D5187-21:炭材料XRD定量相分析标准方法
ISO 20203:2015:结晶度指数测定技术规范
GB/T 3521-2020:石墨化学分析方法中XRD应用章节
GB/T 24533-2019:锂离子电池石墨负极材料检测标准
JIS R 7651:2019:碳素材料X射线衍射试验方法
检测设备
Rigaku SmartLab SE:配备9kW旋转靶光源,CBO交叉光路系统
Bruker D8 ADVANCE DaVinci:采用LynxEye XE-T阵列探测器
PANalytical Empyrean:配置PreFIX预校准模块及PIXcel3D探测器
Shimadzu XRD-7000:搭配θ-θ测角仪及单色化CuKα辐射源
Thermo Scientific ARL EQUINOX 1000:使用微区聚焦技术及高速探测器
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。