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在炭材料xrd中为什么要加入高纯硅粉进行内标检测

检测项目

晶面间距(d002)测定:扫描范围10°-80°,步长0.02°,计数时间1s/step

石墨化度计算:基于(002)峰位半高宽(FWHM)及Bragg方程推导

晶体尺寸(Lc)分析:采用Scherrer公式计算层片堆积厚度

晶格畸变率测量:通过(004)峰形拟合获取微应变参数

硅内标峰校准:2θ=28.44°(Si(111))偏差控制≤±0.01°

检测范围

石墨类材料:天然石墨、人造石墨、膨胀石墨

碳基复合材料:C/C复合材料、石墨烯增强体

多孔炭材料:活性炭、碳分子筛、碳气凝胶

碳纤维制品:PAN基碳纤维、沥青基碳纤维

功能化炭材:插层化合物、表面改性炭黑

检测方法

ASTM D5187-21:炭材料XRD定量相分析标准方法

ISO 20203:2015:结晶度指数测定技术规范

GB/T 3521-2020:石墨化学分析方法中XRD应用章节

GB/T 24533-2019:锂离子电池石墨负极材料检测标准

JIS R 7651:2019:碳素材料X射线衍射试验方法

检测设备

Rigaku SmartLab SE:配备9kW旋转靶光源,CBO交叉光路系统

Bruker D8 ADVANCE DaVinci:采用LynxEye XE-T阵列探测器

PANalytical Empyrean:配置PreFIX预校准模块及PIXcel3D探测器

Shimadzu XRD-7000:搭配θ-θ测角仪及单色化CuKα辐射源

Thermo Scientific ARL EQUINOX 1000:使用微区聚焦技术及高速探测器

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

在炭材料xrd中为什么要加入高纯硅粉进行内标检测
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。