检测项目
1. 反射率绝对测量：250-2500nm波段内±0.5%精度
2. 波长依赖性测试：步长1nm连续扫描
3. 入射角响应分析：5°-85°连续可调
4. 偏振态敏感性评估：s/p偏振分离测量
5. 温度稳定性测试：-40℃至+150℃环境模拟
检测范围
1. 光学镀膜材料：包括AR膜、高反膜、分光膜等
2. 激光晶体元件：YAG晶体、KTP晶体等非线性光学材料
3. 光纤通信器件：WDM滤波器、光隔离器端面
4. 半导体晶圆：硅基/化合物半导体表面处理层
5. 航天热控涂层：二次表面镜、OSR组件
检测方法
ASTM E903-2020 材料太阳吸收比与反射比测试标准
ISO 13696:2002 激光光学元件反射率测量规程
GB/T 26313-2010 光学薄膜光谱特性测试方法
GB/T 31370.2-2015 平板显示器光学性能测量第2部分：反射特性
IEC 61746-2005 光时域反射计校准规范
检测设备
1. Agilent Cary 7000全能型分光光度计：支持0°-60°变角反射附件
2. PerkinElmer Lambda 1050+双光束系统：配备150mm积分球模块
3. Newport Oriel IQE-200量子效率测试系统：覆盖300-1800nm光谱
4. Thorlabs PAX1000偏振分析仪：支持780-1650nm波长范围
5. Ophir PD300-3W高功率激光功率计：最大承受3W连续激光
6. Bruker Vertex 80v真空型傅里叶红外光谱仪：远红外波段反射测量
7. Shimadzu ISR-2600积分球模块：150mm内径镀金球体设计
8. Keysight N5227A PNA网络分析仪：毫米波频段反射系数测量
9. Ocean Insight HDX-VIS-NIR光谱仪：190-1100nm快速采集系统
10. Thermo Scientific Evolution 220双样品仓系统：同步参比测量功能
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
