检测项目
1.化学成分分析：Mo含量（68.0%-72.0%）、Si含量（28.0%-32.0%）、杂质元素（O≤0.5%、C≤0.1%、Fe≤0.3%）。
2.密度测定：理论密度6.24g/cm³±0.05g/cm³（阿基米德法）。
3.维氏硬度测试：载荷500gf，硬度值≥1200HV。
4.抗弯强度测试：室温下≥300MPa（三点弯曲法）。
5.热膨胀系数测定：20-1000℃范围内（8.5-9.5）×10⁻⁶/℃。
6.电阻率测试：室温电阻率≤50μΩ·cm（四探针法）。
检测范围
1.高温加热元件：MoSi₂发热棒、电阻丝。
2.抗氧化涂层材料：航空发动机叶片涂层、高温炉内衬。
3.复合材料基体：MoSi₂-SiC陶瓷基复合材料。
4.粉末冶金制品：烧结MoSi₂电极、坩埚。
5.半导体材料：掺杂型MoSi₂薄膜靶材。
检测方法
1.ASTME1479-16《金属及合金化学分析标准指南》：XRF法测定主量元素。
2.ISO18754:2020《精细陶瓷密度测定》：阿基米德排水法。
3.GB/T4340.1-2009《金属维氏硬度试验》：显微硬度计测试。
4.GB/T6569-2006《精细陶瓷弯曲强度试验方法》：三点弯曲试验。
5.GB/T4339-2008《金属材料热膨胀系数测定》：热机械分析仪（TMA）。
6.ASTMF1529-97(2016)《薄层电阻四探针测量标准》：电阻率测试。
检测设备
1.X射线荧光光谱仪（XRF）：岛津EDX-7000，精度±0.01%，用于元素定量分析。
2.电子万能试验机：Instron5982，载荷范围0-100kN，支持三点弯曲测试。
3.显微硬度计：WilsonVH1150，最大载荷1kgf，配备自动压痕测量系统。
4.热膨胀仪：NetzschDIL402ExpedisClassic，温度范围-160℃-2000℃。
5.四探针电阻测试仪：LucasLabsPro4-4400N，量程0.1μΩ·cm-100MΩ·cm。
6.扫描电子显微镜（SEM）：FEINovaNanoSEM450，分辨率1nm，用于微观形貌观察。
7.激光粒度分析仪：MalvernMastersizer3000，测量范围0.01-3500μm。
8.高温氧化试验炉：NaberthermRHTH120-600/18，最高温度1600℃，可控气氛环境。
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
