检测项目
1.输入电压阈值（V_IH/V_IL）：高/低电平识别范围0.5V2.传输延迟时间（t_PLH/t_PHL）：典型值1-15ns3.静态功耗电流（I_CC）：测量范围0.1μA-10mA4.输入漏电流（I_IL/I_IH）：精度1nA@25℃5.噪声容限（NM_H/NM_L）：验证0.4V-1.2V抗干扰能力
检测范围
1.CMOS工艺数字门电路（74HC系列/4000系列）2.TTL逻辑门器件（74LS/74ALS系列）3.高速ECL门电路（10H/100E系列）4.FPGA输入缓冲单元（Xilinx7系列/AlteraStratixV）5.汽车电子专用门电路（AEC-Q100认证器件）
检测方法
1.GB/T17574-2021《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》2.IEC60747-14-3:2019CMOS数字集成电路测试规范3.ASTMF1241-22逻辑器件动态特性测量规程4.JESD22-A114F静电放电敏感度测试5.MIL-STD-883HMethod3015输入特性验证
检测设备
1.KeysightB1500A半导体参数分析仪：静态参数测量2.TektronixMSO646GHz示波器：动态波形采集3.AdvantestV93000ATE系统：量产自动化测试4.Chroma3380P功率分析仪：功耗特性分析5.ThermoStreamT-2600温度冲击箱：-65℃~150℃环境模拟6.EMTESTUCS500N静电发生器：8kV接触放电测试7.Agilent81110A脉冲发生器：最小脉宽1ns信号激励8.NIPXIe-4143源测量单元：四象限电源输出9.HIOKIIM3536LCR表：输入阻抗特性测量10.Fluke289真有效值万用表：基础电气参数验证
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
