检测项目

中子吸收性能检测：

• 热中子吸收截面测量：σ_a值（2200m/s能量，参照ASTME481）、微观吸收截面偏差（±0.05barn）
• 宏观散射截面计算：Σ_s值（能量范围0.025eV-10MeV）、平均自由程（λ≥2cm）
• 共振吸收积分测试：I值（镉比法，精度±0.5%）

• 密度测定：表观密度（≥1.75g/cm³）、真密度（Pycnometer法）
• 孔隙率分析：开孔率（≤15%）、闭孔率（压汞法，孔径分布0.1-100μm）
• 比表面积测试：BET法（氮吸附，范围0.1-1000m²/g）

• 元素纯度分析：碳含量（≥99.95wt%）、杂质元素（硼当量≤0.1ppm，参照ISO17025）
• 灰分测定：高温灼烧法（≤100ppm，950℃±20℃）
• 气体吸附特性：氩气吸附等温线（77K，孔径分布校准）

• 导热系数测试：激光闪射法（室温至1000℃，≥120W/m·K）
• 热膨胀系数测量：dilatometer法（CTE≤5.0×10⁻⁶/K，20-500℃）
• 比热容测定：DSC法（精度±1%，范围25-1000℃）

• 抗压强度测试：室温强度（≥40MPa，应变速率0.5mm/min）
• 弹性模量测量：动态共振法（E≥10GPa，泊松比0.2-0.3）
• 硬度检测：维氏硬度（HV10≥50，载荷1kgf）

• 晶粒尺寸分析：XRD法（Scherrer公式，晶粒≤10μm）
• 取向度测试：偏振光显微镜（各向异性比≤1.05）
• 缺陷密度评估：TEM成像（位错密度≤10⁸/cm²）

• 中子辐照试验：肿胀率（≤1%，fluence≥10²¹n/cm²）
• γ射线辐照：电导率变化（±5%，剂量率1kGy/h）
• 退火行为分析：等温退火（400-600℃，恢复率≥90%）

• 粗糙度测量：AFM法（Ra≤0.1μm，扫描面积5μm×5μm）
• 化学稳定性测试：酸碱性浸泡（质量损失率≤0.01%，pH=2-12）
• 吸附层厚度：椭偏仪法（单层吸附≤1nm）

• 高温氧化试验：重量变化（空气，800℃±10℃，≤0.1mg/cm²·h）
• 腐蚀速率测定：盐水喷雾法（NaCl5%，240h，失重≤0.01g）
• 湿度影响测试：水蒸气吸附（RH=95%，25℃，吸附量≤0.1wt%）

• 电阻率测量：四探针法（室温，≤1000μΩ·m）
• 介电常数测试：LCRmeter法（1MHz-1GHz，ε_r=10-15）
• 载流子浓度：霍尔效应仪（n-type，浓度≤10¹⁵/cm³）

检测范围

1.核级高纯石墨：硼含量≤0.1ppm，重点检测中子吸收截面及辐射稳定性，确保反应堆慢化剂性能

2.超细颗粒各向同性石墨：颗粒尺寸≤10μm，侧重微观结构均匀性及热导率各向同性比测试

3.热解涂层石墨：表面涂层厚度100-500μm，检测涂层附着力及中子屏蔽效率

4.掺杂改性石墨：如硼掺杂（0.1-1.0wt%），重点分析掺杂均匀性及吸收截面增强效应

5.再结晶石墨：高温处理（≥2500℃），检测晶粒生长取向及高温强度衰减

6.多孔石墨材料：孔隙率20-50%，侧重气体渗透性及中子慢化能力评估

7.石墨复合材料：如C/C复合材料，检测界面结合强度及辐照肿胀行为

8.纳米结构石墨：纳米片或纳米管增强，重点分析纳米尺度缺陷及热稳定性

9.单晶石墨样品：用于基准测试，检测本征吸收截面及晶格振动参数

10.工业级石墨废料：回收利用评估，检测杂质迁移及性能一致性

检测方法

国际标准：

• ASTME481-14中子吸收截面测量标准方法（镉差法，能量范围0.001-10eV）
• ISO17025:2017化学检测实验室能力要求（用于纯度分析，偏差控制±0.01%）
• ISO80000-9:2019热物理量测量规范（导热系数测试，与ASTM差异在±2%）
• ASTMC559-16石墨表观密度测试方法（液体置换法，精度±0.02g/cm³）
• ISO10119:2020碳材料孔隙率分析（压汞法与气体吸附法互补）

• GB/T3074.1-2017石墨电极密度测定方法（与国际标准等效，但样品尺寸要求不同）
• GB/T24586-2009铁矿石中硼含量测定（adapt用于石墨，检测限0.01ppm）
• GB/T8722-2008石墨材料导热系数测试（hotwire法，与ISO方法温差±5℃）
• GB/T19936-2005石墨抗压强度试验（应变速率控制较ASTM更严格）
• GB/T30019-2013纳米材料比表面积测定（BET法，与ISO一致）

检测设备

1.中子源设备：同位素中子源系统（Am-Be源，强度10⁷n/s，能量范围0.1-11MeV）

2.能谱分析仪：高纯锗探测器（HPGe，分辨率≤1.9keVat1.33MeV）

3.导热系数测试仪：LFA467HyperFlash（温度范围-100℃-1000℃，精度±3%）

4.电子显微镜：SEMJSM-7900F（分辨率0.8nm，放大倍数30-100000x）

5.X射线衍射仪：XRDSmartLab（CuKα辐射，2θ范围5°-90°）

6.气体吸附分析仪：ASAP2460（比表面积范围0.01-1000m²/g，孔径分析0.35-500nm）

7.万能材料试验机：Instron5967（载荷范围0.02kN-30kN，精度±0.5%）

8.热膨胀仪：DIL802Expedis（温度范围-180℃-1000℃，膨胀分辨率0.125nm）

9.光谱分析仪：ICP-OESAvio550（检测限ppb级，元素范围Li-U）

10.辐照模拟装置：GammaCell960（⁶⁰Co源，剂量率1-10kGy/h，均匀性±5%）

11.表面粗糙度仪：AFMDimensionIcon（扫描范围90μm×90μm，分辨率0.1nm）

12.电阻率测试系统：Four-ProbeStation（电流范围1nA-1A，电压精度±0.1%）

13.高温炉：TubeFurnaceTF-1200（最高温度1200℃，气氛控制Ar/O₂）

14.动态机械分析仪：DMAQ800（频率范围0.01-200Hz，温度-150℃-600℃）

15.霍尔效应测量系统：HMS-3000（磁场强度0.5T，载流子浓度范围10¹⁰-10¹⁸/cm³）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。