- By 中析研究所
- 2024-07-22 05:47:15
测厚仪:用于测量材料的厚度,如金属、塑料、纸张等。
超声波测厚仪:通过超声波在材料中的传播速度来测量厚度。
X 射线测厚仪:利用 X 射线的穿透能力来测量材料的厚度。
激光测厚
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- By 中析研究所
- 2024-07-22 05:46:41
透光率仪:用于测量材料的透光率。
雾度仪:用于测量材料的雾度。
分光光度计:可用于测量材料的透射光谱。
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- By 中析研究所
- 2024-07-22 05:46:17
X 射线衍射仪:用于分析晶体结构和材料的相组成。
电子显微镜:可以观察材料的微观结构和形貌。
能谱仪:用于分析材料的元素组成和化学状态。
荧光光谱仪:可用于分析材料的发光特
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- By 中析研究所
- 2024-07-22 05:44:47
X 射线检测仪:用于检测物体内部结构和缺陷。
超声波检测仪:可检测材料的厚度、缺陷等。
中子检测仪:适用于检测含氢材料。
红外线检测仪:用于检测物体的温度分布。
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- By 中析研究所
- 2024-07-22 05:44:18
透射高能电子衍射检测主要使用电子衍射仪。电子衍射仪利用电子束与晶体相互作用产生的衍射现象,来分析晶体结构和晶格参数等信息。
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- By 中析研究所
- 2024-07-22 05:43:50
分光光度计:用于测量物质对不同波长光的吸收程度,可检测溶液中的物质浓度。
荧光分光光度计:用于检测物质的荧光发射强度,可用于分析荧光物质的含量和性质。
原子吸收光谱仪:用于
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- By 中析研究所
- 2024-07-22 05:42:14
分光光度计:用于测量物质对不同波长光的吸收程度,从而确定物质的透射率。
透光率测试仪:专门用于测量材料的透光率,通常具有较高的精度和准确性。
雾度计:用于测量透明或半透明材
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- By 中析研究所
- 2024-07-22 05:41:48
密度计:用于测量物体对光的吸收程度,从而确定其密度。
分光光度计:可测量光的波长和强度,用于分析物质的光学性质。
X 射线衍射仪:用于分析晶体结构和材料的组成。
电子显微镜:能
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