- By 中析研究所
- 2024-07-21 06:22:48
外部引用检测可以使用静态分析工具。
静态分析工具可以对代码进行扫描,查找可能存在的外部引用。
它可以检测到代码中引用的外部库、模块或其他资源。
通过分析代码的结构和
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 06:22:18
应变计:用于测量结构或材料在外部约束条件下的应变变化。
位移传感器:用于测量物体在外部约束条件下的位移变化。
压力传感器:用于测量外部约束条件对物体施加的压力。
力传感
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 06:21:48
分光光度计:用于测量物质对不同波长光的吸收程度,可检测物质的浓度、纯度等。
荧光光谱仪:通过测量物质的荧光发射光谱,分析物质的结构和性质。
红外光谱仪:用于分析物质的化学键
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 06:20:04
超声波检测仪:用于检测外部支座的内部缺陷和损伤。
磁粉探伤仪:可检测外部支座表面的裂纹和缺陷。
硬度计:用于测量外部支座的硬度。
拉伸试验机:可对外部支座进行拉伸试验,检测
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 06:19:32
示波器:用于检测外部中断信号的波形和频率。
逻辑分析仪:可以分析多个数字信号的时序和逻辑关系。
万用表:可测量外部中断信号的电压、电流等参数。
频谱分析仪:用于分析外部中
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 06:19:03
X 射线荧光光谱仪:用于检测矿石中的元素成分和含量。
激光粒度分析仪:用于测量矿石的粒度分布。
扫描电子显微镜:用于观察矿石的微观结构和表面形貌。
X 射线衍射仪:用于分析矿
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 06:18:09
位平行检测是一种用于检测数字电路中数据传输正确性的方法。信号完整性测试:检查信号在传输过程中的质量,包括噪声、抖动和失真等。数据传输速率测试:测量数据在单位时间内的传
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 06:17:26
电子显微镜:用于观察微小物体的结构和形态。
X 射线衍射仪:用于分析物质的晶体结构。
红外光谱仪:用于检测物质的分子结构和化学键。
原子吸收光谱仪:用于分析物质中的金属元素
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