- By 中析研究所
- 2025-05-26 12:03:02
检测项目1.纯度分析：采用气相色谱法测定主成分含量（≥99.5%）2.水分含量：卡尔费休法测定游离水（≤0.05%）3.酸度测定：电位滴定法检测游离酸（以H+计≤0.1mmol/g）4.密度测试：20℃条件下密度范围（1.45-1.55g/cm）5.沸点测定：常压沸点范围（120-125℃）6.闪点测试：闭口杯法测定（≥35℃）7.残留溶剂：GC-MS检测甲醇残留（≤500ppm）检测范围1.医药中间体合成原料2.农药原药生产原料3.电子行业精密清洗剂4.含氟高分子材料单体5.工业级溶剂及反应介质6.实验
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- By 中析研究所
- 2025-05-26 12:02:43
检测项目1.酸浓度测定：采用电位滴定法测量H+浓度范围（0.1-12mol/L），精度0.05mol/L2.反应温度敏感性：监测体系在20-200℃区间内活化能变化（ΔEa≤50kJ/mol）3.催化剂活性评估：通过TOF（转换频率）计算值≥10^3h^-14.产物选择性分析：GC/MS测定主产物占比≥95%，副产物阈值＜0.5%5.反应动力学参数：测定速率常数k值（10^-4-10^2s^-1）及反应级数n检测范围1.有机合成中间体：酯化/烷基化反应体系（如乙酸乙酯合成）2.高分子材料：聚酯树脂缩聚反应
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- By 中析研究所
- 2025-05-26 12:02:41
检测项目1.化学成分分析：测定Cr（17.00-19.00%）、Ni（13.00-15.50%）、Mo（2.25-3.50%）等元素含量2.抗拉强度测试：≥860MPa（轴向载荷）3.显微组织检验：奥氏体晶粒度等级≥5级（ASTME112）4.耐腐蚀性能：通过72h中性盐雾试验（ISO9227）5.表面粗糙度：Ra≤0.8μm（GB/T1031）6.螺纹精度：中径公差0.02mm（ISO5835）7.孔隙率检测：内部缺陷≤0.1%（ASTMF601）检测范围1.奥氏体不锈钢材料：304、316L、317L
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- By 中析研究所
- 2025-05-26 12:02:36
检测项目1.微生物指标：菌落总数≤500CFU/g，霉菌与酵母菌≤100CFU/g，金黄色葡萄球菌/铜绿假单胞菌不得检出2.重金属含量：铅≤10mg/kg，汞≤1mg/kg，砷≤2mg/kg3.pH值范围：5.5-8.5（水基产品）或4.5-7.0（油基产品）4.防腐剂含量：苯甲酸类≤0.5%，尼泊金酯类总量≤0.8%5.感官指标：色泽均匀度ΔE≤1.5，异味等级≤1级检测范围1.口红类：固体唇膏、液体唇釉、哑光唇泥等基质2.护理类：润唇膏、唇部磨砂膏、唇膜贴片3.彩妆类：持久型唇彩、金属光泽唇蜜4.医疗
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- By 中析研究所
- 2025-05-26 12:02:20
检测项目1.总硫含量测定：检测范围0.01%-5.00%，分辨率0.001%2.形态硫分析：包括硫酸盐硫、硫化物硫、元素硫等组分3.高温燃烧硫释放特性：测定温度范围800-1450℃4.微量硫检测：检出限可达0.5mg/kg5.同位素硫比值测定：δ34S精度0.3‰检测范围1.煤炭及焦炭类：原煤、精煤、焦炭、煤矸石等2.石油产品类：原油、柴油、润滑油、石油焦等3.化工原料类：硫酸铵、硫化橡胶、含硫催化剂等4.金属材料类：合金钢、铜精矿、锌冶炼渣等5.环境样品类：土壤沉积物、工业废气、废水悬浮物等检测方法1
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- By 中析研究所
- 2025-05-26 12:01:06
检测项目1.晶格畸变率：采用X射线衍射法测定（偏差值≤0.15%）2.位错密度：通过化学腐蚀法计算（分辨率≥10^3cm^-2）3.表面粗糙度：白光干涉仪测量（Ra≤0.8nm）4.热稳定性：高温退火实验（1200℃/2h）5.元素偏析度：电子探针微区分析（精度0.05wt%）6.残余应力：激光拉曼光谱法（误差＜5MPa）7.透光性能：紫外-可见分光光度计（波长范围190-2500nm）检测范围1.半导体单晶硅片（直径200-300mm）2.蓝宝石衬底材料（厚度65015μm）3.碳化硅功率器件晶圆（4H
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- By 中析研究所
- 2025-05-26 12:01:00
检测项目1.硬度测试：肖氏硬度D（20-95HD），洛氏硬度HRB（40-100）2.密度测定：误差范围0.02g/cm（1.0-3.5g/cm）3.抗压强度：静态压力测试（5-50MPa）4.耐腐蚀性：5%NaCl溶液浸泡72小时质量损失率≤0.5%5.耐磨性：往复摩擦500次后印面磨损深度≤0.1mm6.热稳定性：热变形温度测试（60-200℃）7.化学成分分析：重金属元素含量（Pb≤90mg/kg,Cd≤75mg/kg）检测范围1.光敏印章垫：高分子聚合物复合材料2.原子印章油：溶剂型/环保型油墨体
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- By 中析研究所
- 2025-05-26 11:58:20
检测项目1.纯度测定：采用光谱法测定元素含量（≥99.9%），分辨率≤0.001%2.密度测试：阿基米德法测量（精度0.001g/cm）3.熔点分析：热台显微镜测定（控温精度0.5℃）4.晶型结构：XRD分析（角度范围5-90，步长0.02）5.表面形貌：SEM观测（分辨率3nm@30kV）检测范围1.金属单质：高纯铝（Al≥99.999%）、电解铜（Cu≥99.95%）2.非金属单质：晶体硅（Si≥99.9999%）、石墨碳（C≥99.9%）3.半导体材料：锗锭（Ge≥99.999%）、砷化镓晶圆4.高
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