- By 中析研究所
- 2025-05-26 13:57:46
检测项目1.金属品位测定：包括Cu、Pb、Zn、Au、Ag等主金属含量（精度0.01%），采用XRF与ICP-MS联用技术2.粒度分布分析：D10/D50/D90粒径参数（测量范围0.1-3000μm），激光衍射法测定3.矿物解离度评估：单体解离度≥85%判定为合格（MLA系统扫描分辨率5μm）4.浮选药剂残留量：黄药类≤15ppm，黑药类≤8ppm（HPLC-MS/MS定量限0.01ppm）5.硫化物氧化率测试：氧化层厚度≤3μm（SEM-EDS面扫精度0.5μm）检测范围1.铜精矿再浮选产物：适用于含
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- By 中析研究所
- 2025-05-26 13:56:37
检测项目1.尺寸精度：测量条空宽度公差（0.05mm）、模块尺寸误差（≤10%）2.光学特性：PCS值（≥0.70）、背景反射率（≤40%）、条反射率（≤25%）3.解码能力：符号等级（≥1.5/4.0）、误码率（≤110⁻⁶）4.印刷缺陷：污点直径（≤0.15mm）、脱墨面积（≤5%）5.环境耐受性：耐摩擦测试（500次循环）、耐温变测试（-40℃~70℃）检测范围1.纸质包装材料：瓦楞纸箱标签、食品级铜版纸标签2.聚合物基材：PET/PVC薄膜标签、HDPE塑料容器直接印刷条码3.金属蚀刻标识：不锈钢
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- By 中析研究所
- 2025-05-26 13:56:34
检测项目1.化学成分分析：碳(C)0.25%-0.35%、硅(Si)1.8%-2.5%、锰(Mn)0.6%-1.2%、磷(P)≤0.04%、硫(S)≤0.03%2.力学性能测试：抗拉强度≥400MPa、屈服强度≥250MPa、延伸率≥12%、布氏硬度180-220HB3.尺寸精度检测：平面度公差≤0.1mm/m、厚度偏差0.5mm、孔径公差H7级4.金相组织检验：珠光体含量≥95%、石墨形态A型占比＞85%、碳化物级别≤3级5.无损探伤：超声波探伤灵敏度Φ2mm平底孔、磁粉探伤裂纹检出率100%、X射线气
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- By 中析研究所
- 2025-05-26 13:56:26
检测项目1.导通电阻测试：测量范围0.1mΩ-10Ω，精度0.5%+3dgt2.绝缘电阻测试：DC500V条件下≥100MΩ（20℃/65%RH）3.抗拉强度测试：线径≤0.5mm时≥50N，线径＞0.5mm时≥80N4.弯曲寿命测试：R=3D条件下≥5000次（UL758标准）5.耐压性能测试：AC1500V/60s无击穿（IEC60950-1）6.温升试验：ΔT≤30K（额定电流下持续4h）7.盐雾试验：5%NaCl溶液喷雾96h（GB/T2423.17）检测范围1.PVC绝缘排线：适用于消费电子内部
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- By 中析研究所
- 2025-05-26 13:55:09
检测项目1.膜层厚度：采用非接触式激光测厚仪测定（50-100μm范围）2.溶出度：30分钟内药物释放量≥85%（pH6.8介质）3.机械性能：抗拉强度≥2.5MPa，断裂伸长率≥150%4.成分分析：地屈孕酮含量（标示量90.0%-110.0%），辅料羟丙甲纤维素占比（15%-25%）5.外观质量：色差ΔE≤1.5（CIELab系统），表面缺陷≤3处/cm检测范围1.不同剂型：素片包衣片、多层包衣片2.规格差异：10mg/片、20mg/片规格薄膜衣3.包衣材料：羟丙甲纤维素（HPMC）、丙烯酸树脂类包衣
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- By 中析研究所
- 2025-05-26 13:53:28
检测项目1.抗拉强度测定：测量试样断裂前承受的最大应力值（单位：MPa），精度要求1%2.断后伸长率计算：标距50mm试样断裂后的永久变形比率（单位：%），误差≤0.5%3.断面收缩率分析：断裂截面面积缩减百分比（单位：%），采用图像分析法测量4.显微硬度测试：维氏硬度HV0.3标尺加载300gf载荷（单位：HV），测试点间距≥3倍压痕直径5.晶粒度评级：依据ASTME112标准评定晶粒尺寸级别（G值范围5-12级）检测范围1.高碳钢线材（C含量≥0.6%）：适用于弹簧钢丝、钢帘线等产品2.不锈钢丝（30
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- By 中析研究所
- 2025-05-26 13:53:03
检测项目几何尺寸公差：包括长度、宽度、高度等基础参数测量，公差范围0.01mm~0.1mm。圆度误差：评估圆柱体或球体表面偏离理想圆的程度，误差值≤0.005mm。平面度波动：通过激光干涉法测定表面平整度，允许偏差≤0.003mm/m。轮廓度偏差：分析复杂曲面与理论模型的匹配度，最大允许误差0.02mm。同轴度误差：测量回转体轴线偏移量，精度要求≤φ0.01mm。检测范围金属机械零件：包括轴承、齿轮、轴类等高精度传动部件。注塑成型制品：如密封圈、壳体结构件及微型塑料齿轮。陶瓷基复合材料：用于航空航天领域的
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- By 中析研究所
- 2025-05-26 13:52:32
检测项目1.化学成分分析：采用X射线荧光光谱法（XRF）测定主量元素（SiO₂、Al₂O₃、Fe₂O₃等）含量范围0.01%-100%，检出限达10ppm2.晶体结构表征：X射线衍射（XRD）测定晶面间距（0.5-10），角度分辨率0.0013.热稳定性测试：差示扫描量热仪（DSC）测量相变温度（20-1500℃），控温精度0.1℃4.显微形貌观测：扫描电镜（SEM）分辨率达1nm，加速电压0.1-30kV可调5.密度测定：气体置换法测量真密度（0.1-20g/cm），重复性误差≤0.02%检测范围1.硅
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