检测项目

1.主成分含量：SmF₃纯度≥99.9%（质量分数），采用差减法计算2.杂质元素分析：Fe≤50ppm、Ca≤30ppm、Mg≤20ppm（ICP-MS法）3.氧含量测定：O≤0.5%（惰性熔融红外吸收法）4.晶体结构表征：立方晶系（空间群Fm-3m），晶格参数a=5.860.02（XRD法）5.粒度分布：D50=3-5μm（激光衍射法），比表面积1.5-2.5m/g（BET法）

检测范围

1.稀土金属合金中的SmF₃添加剂2.光学玻璃镀膜用高纯SmF₃靶材3.核反应堆中子吸收材料SmF₃陶瓷4.固态电解质前驱体SmF₃粉末5.荧光材料用纳米级SmF₃颗粒

检测方法

1.GB/T18115.6-2006《稀土金属及其氧化物化学分析方法钐中稀土杂质的测定》2.ASTME1479-16《电感耦合等离子体质谱法测定高纯材料中痕量元素》3.ISO21068-2:2008《含碳耐火材料化学分析-氧含量测定》4.GB/T13221-2021《纳米粉末粒度分布的测定X射线小角散射法》5.JISR1639:1999《精细陶瓷粉末比表面积测试方法》

检测设备

1.Agilent7900ICP-MS：痕量金属杂质定量分析（检出限0.01ppb）2.RigakuSmartLabX射线衍射仪：晶体结构解析（角度精度0.0001）3.MalvernMastersizer3000：粒度分布测试（量程0.01-3500μm）4.MicromeriticsASAP2460：比表面及孔隙度分析（孔径测量0.35-500nm）5.LECOONH836氧氮氢分析仪：氧含量测定（分辨率0.01ppm）6.HitachiSU8220场发射电镜：微观形貌观察（分辨率0.8nm@15kV）7.PerkinElmerSTA8000同步热分析仪：热稳定性测试（温度范围RT-1500℃）8.ThermoScientificARLPERFORM'XXRF光谱仪：主成分快速筛查（精度0.02%）9.BrukerVERTEX80v红外光谱仪：化学键合状态分析（波数范围30-28,000cm⁻）10.AntonPaarLitesizer500纳米粒度仪：胶体体系分散性评价（Zeta电位测量300mV）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。