检测项目

1.光谱响应范围：200-2500nm全波段覆盖测试2.波长定位精度：0.2nm（可见光波段）3.信噪比测试：≥60dB@500nm基准波长4.热稳定性验证：-20℃至80℃环境下的基线漂移量5.空间分辨率验证：最小10μm点扫描能力

检测范围

1.半导体晶圆表面缺陷分析2.光学薄膜透过率/反射率特性3.高分子材料老化程度评估4.生物医学样本荧光标记定位5.纳米涂层厚度均匀性验证

检测方法

1.ASTME275紫外-可见分光光度法2.ISO13696光学元件散射特性测试3.GB/T26824-2011纳米材料光学性能测试规范4.IEC61345光伏组件UV老化试验5.GB/T26179-2010近红外光谱分析方法通则

检测设备

1.AgilentCary7000全能型分光光度计（UV-Vis-NIR三波段集成）2.PerkinElmerLambda1050+UV/Vis/NIR系统（带积分球附件）3.BrukerHyperion3000显微红外光谱仪（空间分辨率8μm）4.ThermoScientificNicoletiN10MX显微拉曼系统（532/785/1064nm多激光源）5.ShimadzuIRAffinity-1S傅里叶变换红外光谱仪（灵敏度0.05cm⁻）6.OceanInsightFX系列光纤光谱仪（200-1100nm快速响应）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。