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文章概述：检测项目1.响应时间：测量探测器从接收到信号至输出90%幅值所需时间（单位：ns）2.光谱响应范围：验证探测器在0.7-14μm波段的灵敏度分布曲线3.噪声等效功率（NEP）：测试最小可探测光功率（单位：W/Hz1/2）4.探测率（D*）：评估单位面积探测器性能（单位：Jones）5.工作温度稳定性：在-40℃至+85℃环境下的响应偏差（3%阈值）检测范围1.半导体材料：InGaAs、HgCdTe等光电转换基材2.光学薄膜组件：增透膜、滤光片等镀层器件3.热成像模组：非制冷型微测辐射热计阵列4.气体传感器
检测项目
1.响应时间：测量探测器从接收到信号至输出90%幅值所需时间（单位：ns）2.光谱响应范围：验证探测器在0.7-14μm波段的灵敏度分布曲线3.噪声等效功率（NEP）：测试最小可探测光功率（单位：W/Hz1/2）4.探测率（D*）：评估单位面积探测器性能（单位：Jones）5.工作温度稳定性：在-40℃至+85℃环境下的响应偏差（3%阈值）
检测范围
1.半导体材料：InGaAs、HgCdTe等光电转换基材2.光学薄膜组件：增透膜、滤光片等镀层器件3.热成像模组：非制冷型微测辐射热计阵列4.气体传感器：NDIR原理CO2/CH4探测器5.安防设备：被动红外（PIR）运动传感器
检测方法
ASTME1256-17红外测温仪校准规程ISO18434-1:2008机器状态监测与诊断标准GB/T13543-2017红外探测器测试方法GB/T26111-2010微机电系统（MEMS）红外传感器规范IEC62676-2-3:2013视频监控系统性能测试
检测设备
1.ThermoScientificNicoletiS50FT-IR：傅里叶变换红外光谱分析2.OrielCS260单色仪：0.2-20μm波长精准输出3.FlukeTiX580热像仪：640480分辨率温度场测量4.LabsphereUSS-600C均匀光源系统：1%辐照均匀度校准5.Keithley4200A-SCS参数分析仪：pA级微弱电流测试6.EspecSH-642恒温恒湿箱：-70℃~+150℃环境模拟7.Newport818系列光功率计：nW~W级光辐射测量8.BrukerVertex80v真空型光谱仪：低背景干扰测试9.OptronicLaboratoriesOL750双光栅单色仪：0.2-50μm宽谱分析10.AgilentB1500A半导体分析仪：IV/CV特性曲线测试
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
