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反应面检测

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文章概述:检测项目1.表面粗糙度:Ra值测量范围0.1-10μm,Rz值精度5%2.显微硬度测试:载荷范围HV0.1-HV50,压痕对角线测量精度0.2μm3.残余应力分析:X射线衍射法测量范围2000MPa4.表面成分分析:EDS能谱元素浓度检出限0.1%-100%5.涂层厚度测定:涡流法测量范围1-500μm检测范围金属材料:铝合金航空部件/不锈钢医疗器械/钛合金植入体高分子材料:聚乙烯管道/聚碳酸酯光学元件/PTFE密封件陶瓷材料:氧化铝基板/碳化硅轴承/氮化硅切削工具复合材料:碳纤维增强塑料结构件/玻璃钢储

检测项目

1.表面粗糙度:Ra值测量范围0.1-10μm,Rz值精度5%

2.显微硬度测试:载荷范围HV0.1-HV50,压痕对角线测量精度0.2μm

3.残余应力分析:X射线衍射法测量范围2000MPa

4.表面成分分析:EDS能谱元素浓度检出限0.1%-100%

5.涂层厚度测定:涡流法测量范围1-500μm

检测范围

金属材料:铝合金航空部件/不锈钢医疗器械/钛合金植入体

高分子材料:聚乙烯管道/聚碳酸酯光学元件/PTFE密封件

陶瓷材料:氧化铝基板/碳化硅轴承/氮化硅切削工具

复合材料:碳纤维增强塑料结构件/玻璃钢储罐

电子元件:PCB电路板焊点/半导体晶圆镀层

检测方法

ASTME384-22材料显微硬度标准试验方法

ISO4287:2023产品几何量技术规范表面结构轮廓法

GB/T4340.1-2022金属材料维氏硬度试验第1部分

ASTME915-22X射线衍射残余应力测定标准方法

ISO3497:2023金属镀层厚度测量X射线光谱法

检测设备

KeyenceVR-5000三维表面形貌仪:Z轴分辨率0.01μm

WilsonWolpert402MVA显微硬度计:最大载荷50kgf

BrukerD8DiscoverX射线衍射仪:Cu靶Kα辐射源

HitachiSU5000场发射扫描电镜:分辨率1.0nm@15kV

FischerMP0R涂层测厚仪:四探头复合测量系统

TaylorHobsonFormTalysurfi120接触式轮廓仪:横向分辨率16nm

OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜:405nm激光光源

ThermoScientificARLQUANT'XX射线荧光光谱仪:Rh靶4kW发生器

HysitronTI950纳米压痕仪:载荷分辨率1nN

PerkinElmerTGA4000热重分析仪:温度精度0.1℃

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

反应面检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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