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光电对抗检测

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文章概述:检测项目1.激光波长精度测试:波长偏差≤0.2nm(405-1550nm波段)2.红外焦平面阵列响应率:3-5μm波段非均匀性<2%3.光学窗口透过率衰减:1064nm激光辐照后透过率下降≤0.5%4.脉冲激光峰值功率稳定性:重复频率10Hz时波动量<3%5.多光谱干扰抑制比:可见光/红外双波段串扰≤-40dB6.光电探测器响应时间:上升时间≤5ns(1550nm波长)检测范围1.军用激光对抗系统:包含激光告警器、定向红外对抗模块等2.红外热成像设备:涵盖制冷/非制冷型焦平面探测器组件3.紫外/可见光侦察

检测项目

1.激光波长精度测试:波长偏差≤0.2nm(405-1550nm波段)2.红外焦平面阵列响应率:3-5μm波段非均匀性<2%3.光学窗口透过率衰减:1064nm激光辐照后透过率下降≤0.5%4.脉冲激光峰值功率稳定性:重复频率10Hz时波动量<3%5.多光谱干扰抑制比:可见光/红外双波段串扰≤-40dB6.光电探测器响应时间:上升时间≤5ns(1550nm波长)

检测范围

1.军用激光对抗系统:包含激光告警器、定向红外对抗模块等2.红外热成像设备:涵盖制冷/非制冷型焦平面探测器组件3.紫外/可见光侦察系统:包括光谱响应范围200-1100nm的传感器4.光学镀膜元件:抗激光损伤阈值>5J/cm的增透/反射膜系5.光电稳定平台:含两轴/四轴陀螺稳定系统的动态跟踪精度6.多光谱复合制导头:可见光+红外+激光复合探测模组

检测方法

1.ASTME2758-18:激光系统波长稳定性测试规程2.ISO14807:2001:光学元件激光损伤阈值测定方法3.GB/T30111-2013:红外焦平面阵列参数测试规范4.GJB5892-2006:军用激光对抗设备环境试验方法5.ISO9022-11:2015:光学系统环境耐久性试验标准6.GB/T26599-2011:光电探测器时间响应特性测量

检测设备

1.Agilent8164B光波万用表:0.6-1.75μm波长精度0.7pm2.FLIRSC8300红外热像仪:3-5μm波段NETD<18mK3.OphirVega激光功率计:30kW峰值功率测量能力4.Newport2936-R光机械衰减器:60dB动态范围可调5.LabsphereLMS-760光谱辐射计:200-2500nm全波段分析6.ThorlabsPM320E光电探头:350-1800nm响应时间1ns7.KeysightN4985A误码测试仪:28Gbps高速光电信号分析8.SpectroCam中波红外测试平台:3-5μm非均匀性校正系统

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

光电对抗检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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