1. X射线衍射仪

X射线衍射仪是一种常用的仪器，用于分析和确定晶体的晶胞参数、晶格结构、晶体取向和晶体纯度等信息。它将物质暴露于X射线束中，通过测量样品对X射线的散射模式来确定样品的晶体学信息，从而进行晶体结构的分析。

2. 偏光显微镜

偏光显微镜是一种常用的显微镜，主要用于观察和分析材料的光学性质和晶体结构。它利用光的偏振现象，通过透射光的光学性质来观察样品中的纹理和晶体取向，从而判断晶体的织构特征。

3. 电子回旋共振光谱仪

电子回旋共振光谱仪是一种利用电磁波与物质中的电子自旋相互作用的技术，用于分析和测量材料中的自由基含量和磁性。在晶体结构分析中，它可以用来研究晶体中磁性物质的分布和取向。

4. 拉曼光谱仪

拉曼光谱仪是一种利用样品与激光光束相互作用而产生的拉曼散射现象来分析样品的光谱信息的仪器。在晶体结构分析中，它可以用于研究和识别晶体中的不同化学成分和晶格结构的变化。

5. 热分析仪

热分析仪是一种通过对样品加热或冷却过程中的物理和化学性质进行测量和分析的仪器。在晶体结构分析中，热分析可以用来研究和确定晶体的相变温度、热稳定性、热膨胀性等参数，从而分析晶体的结构和性质。

6. 扫描电子显微镜

扫描电子显微镜是一种高分辨率的显微镜，通过扫描样品表面以及样品与电子束之间的相互作用来获得样品的形貌和表面结构信息。在晶体结构分析中，扫描电子显微镜可以用于观察晶体的形貌、表面缺陷、晶界和晶体取向等特征。

7. 原子力显微镜

原子力显微镜是一种利用扫描探针和样品之间的力相互作用来获得样品表面形貌和性质的仪器。在晶体结构分析中，原子力显微镜可以用于观察晶体的表面形貌、晶体缺陷、表面结构和晶体取向等特征。

8. 电子背散射衍射仪

电子背散射衍射仪是一种利用电子束与样品相互作用而产生的背散射衍射模式来分析样品晶体学信息的仪器。它可以用于研究晶体的取向、晶胞参数、晶体缺陷等，从而进行晶体结构的分析。

9. 红外光谱仪

红外光谱仪是一种利用样品对红外辐射的吸收和散射来分析样品的化学组成和结构的仪器。在晶体结构分析中，红外光谱仪可以用来研究和确定晶体中的分子组成、键合情况、取向和晶体结构的变化。