内容页头部

锗粉检测仪器

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:1. 粉末颗粒度仪:

用于检测锗粉的颗粒大小及分布情况,通过测量颗粒的粒径来确定粉末的粒度。

2. 电子显微镜(SEM):

利用电子束与物质相互作用的原理,观察锗粉的表面形貌,可以检

1. 粉末颗粒度仪:
用于检测锗粉的颗粒大小及分布情况,通过测量颗粒的粒径来确定粉末的粒度。

2. 电子显微镜(SEM):
利用电子束与物质相互作用的原理,观察锗粉的表面形貌,可以检测粉末的颗粒形状、表面结构等。

3. X射线衍射仪(XRD):
通过测量锗粉样品对入射X射线的衍射情况,可以确定锗粉的晶体结构、晶格参数等信息。

4. 热重分析仪(TGA):
用于测定锗粉的热稳定性和热分解特性,可以得到锗粉的热性能参数。

5. 红外光谱仪(IR):
通过测量锗粉样品在红外辐射下的吸收、散射和透射等特性,可以获得锗粉的红外光谱信息。

锗粉检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

全站搜索

中析研究所