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杂质粒子检测仪器

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文章概述:1. 气质联用仪(GC-MS):该仪器能够通过气相色谱和质谱联合分析,检测样品中的挥发性有机物质。
2. X射线衍射仪(XRD):该仪器利用X射线的衍射现象来分析样品的物相和晶体结构,可以检测

1. 气质联用仪(GC-MS):该仪器能够通过气相色谱和质谱联合分析,检测样品中的挥发性有机物质。

2. X射线衍射仪(XRD):该仪器利用X射线的衍射现象来分析样品的物相和晶体结构,可以检测样品中的无机杂质。

3. 扫描电子显微镜(SEM):该仪器通过扫描样品表面的电子束来生成样品的表面形貌图像,能够检测样品中的微观杂质。

4. 红外光谱仪(IR):该仪器利用样品吸收、发射、透射红外光的信息来分析样品的物质成分和化学结构,可以检测样品中的有机杂质。

5. 紫外可见分光光度计(UV-Vis):该仪器通过测量样品溶液对紫外或可见光的吸收情况来确定样品的物质成分及浓度,可以检测样品中的无机杂质。

6. 原子吸收光谱仪(AAS):该仪器通过测量样品原子吸收特定波长的光的强度来分析样品中的金属元素含量,可以检测样品中的金属杂质。

杂质粒子检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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