正方晶系检测是一种用于确定物质结晶方式的检测方法，主要用于矿物学、材料学和地质学等领域。

以下是正方晶系检测的一些项目：

1. 偏光显微镜观察：使用偏光显微镜观察物质的光学性质，如双折射、散射、吸收等，从而确定其晶体结构。

2. X射线衍射分析：利用X射线的衍射原理，测量物质对X射线的衍射图样，从而推断其晶体结构和晶面间距。

3. 电子显微镜观察：使用电子显微镜观察物质的表面形貌和晶体结构，可以得到高分辨率的图像，并进一步确定其晶体结构。

4. 热分析：通过对物质在不同温度下的热行为进行测量分析，如热膨胀、热容等参数，可以推断其晶体结构。

5. 红外光谱：通过测量物质在红外光波段的吸收谱线，从而推测其分子结构和晶体结构。

6. 元素分析：使用化学方法对物质中的元素进行分析，从而确定其成分和晶体结构。

7. 磁性测试：通过测量物质在外加磁场下的磁性行为，如磁化强度、磁滞回线等，可以推断其晶体结构。

8. 热电测试：测量物质在温度梯度下的热导率和电导率，可以推断其晶体结构和电子结构。

9. 声学测试：测量物质对声波的传播速度和衰减程度，可以推断其晶体结构和声学性质。

10. 密度测定：通过测量物质的质量和体积，计算得到其密度，可以推断其晶体结构和结晶度。

这些是正方晶系检测中的一些常用方法和技术，不同的应用领域和具体要求可能还会有其他的检测项目。