检测项目

电特性检测：

• 正向电流测试：最大正向电流（IF_max=1A~100A）、正向压降（VF≤0.8V，参照JEDECJESD22-A101）
• 反向电流测试：反向漏电流（IR≤10μA）、击穿电压（VBR≥50V）
• 导通电阻测试：动态电阻（Ron≤0.05Ω）

热特性检测：

• 热阻测试：结-环境热阻（Rth_j-a≤25°C/W）
• 温度系数：正向压降温度系数（dVf/dT=-2mV/°C）
• 功耗测试：稳态功率损耗（P_loss≤5W）

可靠性测试：

• 寿命评估：平均无故障时间（MTBF≥100000h）
• 老化测试：参数漂移率（ΔVF≤5%/1000h）
• 失效分析：失效模式概率分布

动态特性检测：

• 开关特性：上升时间（tr≤10ns）、下降时间（tf≤15ns）
• 恢复时间：反向恢复时间（trr≤50ns）
• 延迟测试：导通延迟（td_on≤20ns）

功率特性检测：

• 效率计算：转换效率（η≥95%）
• 谐波失真：总谐波失真（THD≤1%）
• 过载能力：最大过电流耐受（I_overload=200%IF_max）

封装特性检测：

• 热循环测试：循环次数（≥1000次，温度-40°C至125°C）
• 机械强度：弯曲测试（弯曲半径≥5mm）
• 密封性：气密性漏率（≤1×10^{-8}mbar·l/s）

环境适应性测试：

• 温度循环：工作温度范围（-55°C至150°C）
• 湿度测试：85°C/85%RH耐受时间（≥96h）
• 盐雾试验：腐蚀等级（评级≤Class2）

ESD测试：

• ESD等级：人体模型（HBM≥2000V）、充电设备模型（CDM≥500V）
• 浪涌测试：抗浪涌电压（V_surge≥1kV）
• 静电放电失效阈值

高频特性检测：

• 寄生参数：输入电容（Ciss≤1000pF）、输出电感（Lout≤10nH）
• S参数测量：散射参数（S11≤-20dB）
• 带宽测试：工作频率范围（DC-100MHz）

光学特性检测：

• 光通量：正向电流下流明值（Lumen≥100lm）
• 色坐标：CIE1931坐标（x,y偏差≤0.005）
• 波长精度：主波长偏差（Δλ≤2nm）

检测范围

1.硅二极管：涵盖整流管与开关管，重点检测正向压降一致性及反向漏电流稳定性。

2.肖特基二极管：侧重低正向压降特性测试与高温环境下的热性能评估。

3.LED器件：聚焦正向电流下的光输出效率、色温精度及长期光衰控制。

4.功率晶体管：针对MOSFET与IGBT，核心检测大电流导通特性与开关损耗指标。

5.太阳能电池：评估正向偏置下的转换效率、填充因子及温度系数影响。

6.集成电路芯片：包括逻辑IC与模拟IC，重点测试输入/输出端口正向电流耐受能力。

7.整流器模块：高功率应用，侧重正向电流均匀性、热分布及超载保护机制。

8.传感器器件：如光敏二极管，检测正向偏置时的响应线性度与噪声水平。

9.晶体管阵列：多通道器件，聚焦匹配性测试与并行工作下的电流平衡。

10.功率模块：包括IPM与PIM，核心评估高温正向导通性能与绝缘可靠性。

检测方法

国际标准：

• JEDECJESD22-A101半导体器件正向电流测试方法
• IEC60747-1分立半导体器件通用测试规范
• ISO16750-2汽车电子环境试验方法

国家标准：

• GB/T4589.1-2020半导体器件测试方法基准
• GB/T2423.1-2019电工电子产品环境试验
• GB/T17626.2-2018电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度

国际标准如JEDEC强调动态参数测试条件，而GB/T系列更注重静态参数精度与环境耐受性差异。

检测设备

1.参数分析仪：型号PA-1000（电流范围0.1μA-100A，精度±0.1%）

2.温度控制箱：型号TC-200（温度范围-65°C至150°C，稳定性±0.5°C）

3.示波器：型号OSC-500（带宽1GHz，采样率5GS/s）

4.电源供应器：型号PS-300（电压范围0-60V，电流分辨率1mA）

5.热像仪：型号TI-100（分辨率640x480，热灵敏度0.03°C）

6.环境试验箱：型号ET-400（湿度控制范围10%-98%RH，温度均匀性±1°C）

7.ESD测试仪：型号ESD-500（输出电压0-30kV，波形符合IEC61000-4-2）

8.网络分析仪：型号NA-600（频率范围10MHz-20GHz，动态范围120dB）

9.光度计：型号LM-200（测量范围0.1-100000lx，波长精度±1nm）

10.振动台：型号VT-300（频率范围5-2000Hz，加速度10g）

11.数据采集系统：型号DAQ-400（通道数32，采样率1MS/s）

12.电流探头：型号CP-250（带宽100MHz，电流范围50mA-50A）

13.电压表：型号VM-350（精度±0.05%，测量范围0-100V）

14.恒温槽：型号CT-100（温度稳定性±0.1°C，容积50L）

15.老化试验箱：型号AT-150（温度均匀性±2°C，时间控制精度

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。