检测项目

1.预置数据：预定位宽，预置数值，存储位置，写入校验等。

2.读取验证：读取正确性，读出时序，读出延迟，数据保持等。

3.比较功能：一致性比较，不匹配检测，比较输出，标志位响应等。

4.存储介质：ROM固化，RAM预载，寄存器存储，非易失保持等。

5.地址解析：寻址正确，地址译码，地址范围，地址冲突等。

6.位级测试：逐位写入，逐位读取，位翻转，相邻位干扰等。

7.时序验证：写脉冲宽度，读访问时间，刷新周期，建立保持等。

8.边界测试：全0预定字，全1预定字，交替字，棋盘格等。

9.异常处理：非法地址，越界访问，奇偶校验，错误纠正等。

10.上电逻辑：上电复位值，复位后状态，初始化时序，加载完成等。

11.环境适应：温度影响，电压容限，电磁干扰，可靠性寿命等。

检测范围

原材料样品、半成品样品、成品样品、部件样品、组件样品、元件样品、加工样品、试制样品、量产样品、召回样品、环境模拟样品、失效复现样品、对比基准样品、批量随机样品、客户送检样品

检测仪器

1.逻辑分析仪：用于数字信号时序分析；通道64，采样率1GHz。

2.数字存储示波器：用于电平与波形测量；带宽500MHz，4通道。

3.存储器测试仪：用于存储器功能测试；支持多种封装与位宽。

4.码型发生器：用于测试激励生成；数据率1Gb/s，可编程。

5.可编程电源：用于电压容限测试；分辨率1mV，精度0.02%。

6.温度试验箱：用于温度特性试验；范围-55~150℃。

7.参数分析仪：用于半导体器件V/I特性；分辨率pA级。

8.边界扫描测试仪：用于芯片内部节点测试；支持JTAG/IEEE1149.1。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。