检测项目

1.进位产生：进位标志，进位输出，进位链路，进位延迟等。

2.进位传播：逐位传播，超前进位，组间进位，传播时延等。

3.标志位：进位标志C，溢出标志O，半进位AC，零标志Z等。

4.算术运算：加法进位，减法借位，乘法进位，除法溢出等。

5.时序验证：进位建立时间，传播时间，时钟周期，最高频率等。

6.功能验证：进位正确性，借位正确性，移位进位，循环进位等。

7.超前进位：生成函数，传递函数，超前进位块，级联延迟等。

8.复位清零：标志清零，复位优先级，写回时序，标志保持等。

9.边界测试：全0加1，全1加1，最大值运算，最小值运算等。

10.并行性：并行进位，流水线运算，资源占用，吞吐率等。

11.功耗特性：静态功耗，动态功耗，翻转率，峰值电流等。

检测范围

原材料样品、半成品样品、成品样品、部件样品、组件样品、元件样品、加工样品、试制样品、量产样品、召回样品、环境模拟样品、失效复现样品、对比基准样品、批量随机样品、客户送检样品

检测仪器

1.逻辑分析仪：用于进位时序与逻辑验证；通道64，采样率1GHz。

2.数字存储示波器：用于电平与波形测量；带宽500MHz，4通道。

3.码型发生器：用于测试激励注入；数据率1Gb/s，多通道。

4.半导体参数分析仪：用于V/I特性精密测量；分辨率1pA。

5.可编程电源：用于电压容限测试；分辨率1mV，精度0.02%。

6.温度试验箱：用于温度特性试验；范围-55~150℃。

7.功耗分析仪：用于功耗精密测量；精度±0.05%，带宽DC~5MHz。

8.FPGA开发平台：用于运算器功能仿真；支持HDL综合与时序约束。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。