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文章概述：1. 质量差示扫描仪（SEM）：可用于检测皂土基体的微观形貌和结构特征。
2. X射线衍射仪（XRD）：可以分析皂土基体的晶体结构，确定其物相组成。
3. 红外光谱仪（IR）：可用于皂土基体中功能基团
1. 质量差示扫描仪（SEM）：可用于检测皂土基体的微观形貌和结构特征。
2. X射线衍射仪（XRD）：可以分析皂土基体的晶体结构，确定其物相组成。
3. 红外光谱仪（IR）：可用于皂土基体中功能基团的分析和检测。
