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振密检测方法

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文章概述:振密检测是一种用于检测材料的密度和振动性能的方法。
1. X射线皮秒分首检测(XRD):通过测定材料所反射的X射线的衍射规律来分析材料的晶体结构,从而间接得知材料的密度。
2. 体

振密检测是一种用于检测材料的密度和振动性能的方法。

1. X射线皮秒分首检测(XRD):通过测定材料所反射的X射线的衍射规律来分析材料的晶体结构,从而间接得知材料的密度。

2. 体积方法:将待测试材料置于已知体积的容器中,并测量容器中材料和容器的总体积和容器的空体积,可以计算出材料的密度。

3. 快速扫描电镜(SEM):利用聚焦电子束扫描材料表面,通过计算扫描到的电子数目与扫描范围的比值,可以得到材料的密度信息。

4. 声频共振法:将材料放置在共振仪器中,通过观察材料在不同频率下的振动状态,可以推测材料的密度。

振密检测方法
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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