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文章概述：1. 光学显微镜：用于观察和分析岩石的矿物组成、结构和纹理等特征。
2. X射线衍射仪：通过测定岩石中矿物的晶格间距来确定岩石的晶体结构和矿物组成。
3. 扫描电子显微镜（SEM）：用
1. 光学显微镜：用于观察和分析岩石的矿物组成、结构和纹理等特征。
2. X射线衍射仪：通过测定岩石中矿物的晶格间距来确定岩石的晶体结构和矿物组成。
3. 扫描电子显微镜（SEM）：用于观察岩石的表面形态、矿物的微观结构和成分分析。
4. 能谱仪（EDS）：与SEM配合使用，通过能量散射X射线分析岩石中各种元素的含量和分布。
5. 电子探针显微分析仪（EPMA）：通过用电子束轰击岩石表面，测定岩石中各种元素的含量和分布。
6. 热重分析仪（TGA）：用于测定岩石中含水量、有机物含量和矿物的热分解特性。
7. 紫外可见分光光度计（UV/Vis）：用于测定岩石中有机物和矿物的吸收光谱。
8. 红外光谱仪（FTIR）：用于测定岩石中有机物和矿物的红外吸收光谱，推断化学成分。
9. 气质联用仪（GC-MS）：用于分析岩石中的有机物化合物，确定其组分和浓度。
10. 原子力显微镜（AFM）：用于观察岩石表面的原子尺度结构和形貌。
