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文章概述：1. 热台显微镜：用于观察样品的晶体形态和晶界状况，以判断再结晶程度。
2. 差热分析仪(DTA)：通过测量样品在加热和冷却过程中的热量变化，来分析样品的晶体相变、再结晶行为。
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1. 热台显微镜：用于观察样品的晶体形态和晶界状况，以判断再结晶程度。
2. 差热分析仪(DTA)：通过测量样品在加热和冷却过程中的热量变化，来分析样品的晶体相变、再结晶行为。
3. 热重分析仪(TGA)：用于测量样品在加热过程中的质量变化，从而推断样品的组成和热分解行为。
4. X射线衍射仪(XRD)：通过测量样品对入射X射线的衍射角度和强度，来确定样品的晶体结构和晶粒尺寸。
5. 电子显微镜(SEM)：通过扫描样品表面的电子束来获取样品的形貌和微观结构信息，以评估再结晶效果。
