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文章概述：扫描电子显微镜：用于观察细线超导体的表面形貌和微观结构。
X 射线衍射仪：可分析细线超导体的晶体结构。
电阻率测试仪：测量细线超导体的电阻率。
磁性测量系统：检测细线超导体
扫描电子显微镜：用于观察细线超导体的表面形貌和微观结构。
X 射线衍射仪：可分析细线超导体的晶体结构。
电阻率测试仪：测量细线超导体的电阻率。
磁性测量系统：检测细线超导体的磁性特性。
热重分析仪：分析细线超导体的热稳定性。
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