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文章概述：X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和物相组成。
扫描电子显微镜：可观察晶体的形貌和表面特征。
热重分析：测量晶体在加热过程中的质量变化，以确定其热稳定性。
差示扫描量热仪：用于
X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和物相组成。
扫描电子显微镜：可观察晶体的形貌和表面特征。
热重分析：测量晶体在加热过程中的质量变化，以确定其热稳定性。
差示扫描量热仪：用于研究晶体的热性质，如熔点、结晶温度等。
傅里叶变换红外光谱仪：可分析晶体中的化学键和官能团。
