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文章概述：X 射线衍射仪：用于分析矿物的晶体结构和相组成。
扫描电子显微镜：可以观察细粒赤铁矿的表面形貌和微观结构。
能谱仪：用于分析样品的元素组成。
激光粒度分析仪：测量细粒赤铁矿
X 射线衍射仪：用于分析矿物的晶体结构和相组成。
扫描电子显微镜：可以观察细粒赤铁矿的表面形貌和微观结构。
能谱仪：用于分析样品的元素组成。
激光粒度分析仪：测量细粒赤铁矿的粒度分布。
磁选仪：分离和检测细粒赤铁矿中的磁性矿物。
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