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文章概述：X 射线衍射仪：用于分析细化剂的晶体结构和相组成。
扫描电子显微镜（SEM）：可以观察细化剂的微观形貌和表面特征。
能谱仪（EDS）：用于分析细化剂中的元素组成。
差热分析仪（DTA）或差示扫
X 射线衍射仪：用于分析细化剂的晶体结构和相组成。
扫描电子显微镜（SEM）：可以观察细化剂的微观形貌和表面特征。
能谱仪（EDS）：用于分析细化剂中的元素组成。
差热分析仪（DTA）或差示扫描量热仪（DSC）：用于研究细化剂的热性能和相变行为。
硬度测试仪：测量细化剂的硬度。
粒度分析仪：分析细化剂的粒度分布。
拉伸试验机：用于评估细化剂对材料力学性能的影响。
