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文章概述：X 射线荧光光谱仪：通过测量样品对 X 射线的吸收和荧光发射来确定元素组成和含量，可用于检测吸收限。
X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和物相组成，也可用于检测吸收限。
电子探针
X 射线荧光光谱仪：通过测量样品对 X 射线的吸收和荧光发射来确定元素组成和含量，可用于检测吸收限。
X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和物相组成，也可用于检测吸收限。
电子探针分析仪：通过聚焦电子束激发样品表面产生特征 X 射线，用于微区成分分析和元素分布成像，可检测吸收限。
