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吸附滞后检测仪器

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文章概述:吸附滞后检测通常用于研究材料的吸附性能和孔隙结构。以下是一些可能用于吸附滞后检测的仪器:
1. 物理吸附仪:用于测量气体在固体表面的吸附量和吸附等温线。
2. 压汞仪:通过测

吸附滞后检测通常用于研究材料的吸附性能和孔隙结构。以下是一些可能用于吸附滞后检测的仪器: 1. 物理吸附仪:用于测量气体在固体表面的吸附量和吸附等温线。 2. 压汞仪:通过测量汞在材料孔隙中的侵入和排出压力,来评估孔隙大小和分布。 3. 热重分析(TGA):用于测量材料在加热过程中的质量变化,可用于研究吸附剂的热稳定性和吸附量。 4. 比表面积分析仪:通过测量气体在材料表面的吸附量,计算材料的比表面积。 5. 孔径分析仪:用于测量材料的孔径大小和分布。 6. 表面能分析仪:用于测量材料的表面能和表面极性,这对于理解吸附过程中的相互作用很重要。 7. 原位红外光谱仪:可以实时监测吸附过程中分子与表面的相互作用,提供关于吸附机制的信息。 8. 小角 X 射线散射(SAXS):用于研究材料的微观结构和孔隙特征。 9. 扫描电子显微镜(SEM):用于观察材料的表面形貌和孔隙结构。 10. 透射电子显微镜(TEM):提供更高分辨率的微观结构信息,可用于研究孔隙和界面。

吸附滞后检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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