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文章概述：原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）：可用于检测吸附表面膜层的形貌、厚度和粗糙度等信息。
X 射线光电子能谱（X-ray Photoelectron Spectroscopy，XPS）：可用于分析吸附表面膜
原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）：可用于检测吸附表面膜层的形貌、厚度和粗糙度等信息。
X 射线光电子能谱（X-ray Photoelectron Spectroscopy，XPS）：可用于分析吸附表面膜层的化学成分和化学状态。
扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscopy，SEM）：可用于观察吸附表面膜层的形貌和结构。
傅里叶变换红外光谱（Fourier Transform Infrared Spectroscopy，FTIR）：可用于分析吸附表面膜层的化学结构和官能团。
接触角测量仪：可用于测量吸附表面膜层的亲水性或疏水性。
